| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第9-19页 |
| 1.1 传统光学显微技术 | 第9-11页 |
| 1.2 超高分辨显微成像技术 | 第11-15页 |
| 1.3 STORM显微技术的研究进展 | 第15-16页 |
| 1.4 2PE-STED显微技术的研究进展 | 第16-17页 |
| 1.5 本文主要内容 | 第17-19页 |
| 第二章 单分子定位技术理论基础 | 第19-31页 |
| 2.1 荧光成像技术概述 | 第19-20页 |
| 2.2 单分子检测技术 | 第20-23页 |
| 2.3 单分子中心定位技术 | 第23-28页 |
| 2.3.1 中心定位技术算法及原理 | 第24-26页 |
| 2.3.2 中心定位的精度估计 | 第26-28页 |
| 2.4 单分子可开关控制技术 | 第28-30页 |
| 2.5 本章小结 | 第30-31页 |
| 第三章 STORM的成像过程与分析方法 | 第31-49页 |
| 3.1 常见的噪声模型及滤波方式 | 第31-33页 |
| 3.1.1 常见的噪声模型 | 第31-32页 |
| 3.1.2 滤波方式 | 第32-33页 |
| 3.2 几种中心定位算法 | 第33-34页 |
| 3.3 基于最小二乘法的高斯拟合算法 | 第34-42页 |
| 3.3.1 滤除背景噪声 | 第34-36页 |
| 3.3.2 像素定位 | 第36-38页 |
| 3.3.3 最小二乘法和高斯拟合 | 第38-41页 |
| 3.3.4 漂移校正 | 第41-42页 |
| 3.4 STORM成像过程 | 第42-46页 |
| 3.4.1 2D成像过程 | 第43-44页 |
| 3.4.2 3D成像过程 | 第44-46页 |
| 3.4.3 MATLAB基于CPU的并行处理方式 | 第46页 |
| 3.5 STORM与STED显微技术各自的特点 | 第46-48页 |
| 3.6 本章小结 | 第48-49页 |
| 第四章 双光子-受激发射减损显微（2PE-STED）系统的搭建 | 第49-63页 |
| 4.1 引言 | 第49-50页 |
| 4.2 2PE-STED的基本原理 | 第50-51页 |
| 4.2.1 荧光探针的双光子激发 | 第50页 |
| 4.2.2 2PE-STED的基本原理 | 第50-51页 |
| 4.3 各 2PE-STED显微系统及优缺点 | 第51-54页 |
| 4.3.1 2PE-CW-STED显微镜系统 | 第52-53页 |
| 4.3.2 2PE-P-STED显微镜系统 | 第53页 |
| 4.3.3 SW-2PE-STED显微镜系统 | 第53-54页 |
| 4.4 搭建显微系统的硬件结构与原理 | 第54-57页 |
| 4.4.1 Modulated-2PE-STED显微镜系统 | 第54-56页 |
| 4.4.2 试验装置的具体实施 | 第56-57页 |
| 4.5 实验结果分析与讨论 | 第57-60页 |
| 4.6 2PE-STED显微系统在实际应用中注意的问题 | 第60-62页 |
| 4.6.1 荧光探针的筛选 | 第60-61页 |
| 4.6.2 提高荧光产率的方法 | 第61页 |
| 4.6.3 避免 STED 光对荧光探针的激发 | 第61-62页 |
| 4.6.4 如何使 STED 光获得更高的荧光淬灭率 | 第62页 |
| 4.7 本章小结 | 第62-63页 |
| 第五章 总结与展望 | 第63-65页 |
| 5.1 研究工作总结 | 第63页 |
| 5.2 本文的不足和研究展望 | 第63-65页 |
| 参考文献 | 第65-69页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第69-70页 |
| 致谢 | 第70-71页 |
