320×256大动态范围长波红外读出电路结构设计
| 致谢 | 第4-5页 |
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-21页 |
| 1.1 红外光电探测技术概述 | 第10-12页 |
| 1.1.1 红外光电技术特点 | 第10-11页 |
| 1.1.2 红外光电探测器发展现状 | 第11-12页 |
| 1.2 长波红外探测器 | 第12-13页 |
| 1.3 CMOS读出电路概述 | 第13-19页 |
| 1.3.1 读出电路基本框架结构 | 第14-15页 |
| 1.3.2 读出电路与探测器的互连方式 | 第15-16页 |
| 1.3.3 红外读出电路研究进展与趋势 | 第16-17页 |
| 1.3.4 长波红外探测器读出电路 | 第17-18页 |
| 1.3.5 长波红外探测器读出电路发展现状 | 第18-19页 |
| 1.4 课题研究目的与意义 | 第19页 |
| 1.5 论文的内容结构 | 第19-21页 |
| 第二章 读出电路设计基础 | 第21-33页 |
| 2.1 读出电路基本结构 | 第21-22页 |
| 2.2 读出电路性能参数 | 第22-24页 |
| 2.3 读出电路性能参数分析 | 第24-26页 |
| 2.3.1 读出电路的噪声分析 | 第24-25页 |
| 2.3.2 读出电路的低温特性 | 第25-26页 |
| 2.4 长波探测器背景辐射分析 | 第26-29页 |
| 2.5 长波探测器电路仿真模型 | 第29-30页 |
| 2.6 本课题读出电路设计指标 | 第30-31页 |
| 2.7 读出电路设计方法和流程 | 第31-32页 |
| 2.8 本章小结 | 第32-33页 |
| 第三章 大电荷容量的长波读出电路设计 | 第33-70页 |
| 3.1 读出电路整体结构设计 | 第33-34页 |
| 3.2 模拟信号链路设计 | 第34-58页 |
| 3.2.1 共享结构设计 | 第34-35页 |
| 3.2.2 CTIA输入级结构设计 | 第35-47页 |
| 3.2.3 采样保持电路设计 | 第47-50页 |
| 3.2.4 输出缓冲级设计 | 第50-58页 |
| 3.3 信号读出链路完整仿真 | 第58-62页 |
| 3.4 读出电路数字模块设计 | 第62-66页 |
| 3.5 面阵电路仿真 | 第66-69页 |
| 3.6 本章小结 | 第69-70页 |
| 第四章 读出电路版图设计及后仿真 | 第70-85页 |
| 4.1 版图设计流程 | 第70页 |
| 4.2 读出电路版图设计 | 第70-79页 |
| 4.2.1 单元面阵版图设计 | 第72-73页 |
| 4.2.2 输出级版图设计 | 第73-74页 |
| 4.2.3 移位寄存器版图设计 | 第74-75页 |
| 4.2.4 ESD版图设计 | 第75-76页 |
| 4.2.5 探测器接口版图设计 | 第76-77页 |
| 4.2.6 整体电路版图设计 | 第77-79页 |
| 4.3 读出电路后仿真 | 第79-82页 |
| 4.3.1 版图寄生参数提取 | 第79-81页 |
| 4.3.2 读出电路后仿真 | 第81-82页 |
| 4.4 读出电路前后仿结果对比 | 第82-83页 |
| 4.5 本章小结 | 第83-85页 |
| 第五章 读出电路测试验证 | 第85-102页 |
| 5.1 测试说明 | 第85-86页 |
| 5.2 电路说明 | 第86-88页 |
| 5.3 晶圆中测 | 第88-93页 |
| 5.4 杜瓦测试 | 第93-97页 |
| 5.5 测试结果分析 | 第97-99页 |
| 5.6 读出电路优化 | 第99-101页 |
| 5.7 本章小结 | 第101-102页 |
| 第六章 总结与展望 | 第102-104页 |
| 6.1 工作总结 | 第102-103页 |
| 6.2 工作展望 | 第103-104页 |
| 参考文献 | 第104-111页 |
| 作者简介及在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第111页 |
