摘要 | 第4-6页 |
abstract | 第6-7页 |
第一章 绪论 | 第10-15页 |
1.1 本论文研究的背景及动机 | 第10-11页 |
1.2 本论文选题的目的和意义 | 第11-12页 |
1.3 本论文采用的技术方案以及文章架构 | 第12-15页 |
第二章 物联网技术及其应用 | 第15-27页 |
2.1 物联网的概念 | 第15-17页 |
2.2 物联网的体系结构及RFID核心技术简介 | 第17-19页 |
2.3 物联网的应用 | 第19-25页 |
2.3.1 物联网的发展状况分析 | 第19-21页 |
2.3.2 物联网的应用前景分析 | 第21-23页 |
2.3.3 物联网RFID技术在半导体行业的应用 | 第23-25页 |
2.4 物联网RFID技术对于太极半导体生产管理的意义 | 第25-26页 |
2.5 本章小结 | 第26-27页 |
第三章 太极半导体的生产管理的瓶颈和问题 | 第27-46页 |
3.1 太极半导体封装测试的工艺和流程 | 第27-34页 |
3.1.1 太极半导体封装测试的生产工艺 | 第27-30页 |
3.1.2 太极半导体封装测试的操作流程 | 第30-33页 |
3.1.3 太极半导体封装测试的操作方法 | 第33-34页 |
3.2 太极半导体生产管理面临的问题和根源分析 | 第34-37页 |
3.2.1 太极半导体生产管理面临的问题 | 第34-35页 |
3.2.2 太极半导体的生产要素分析 | 第35-36页 |
3.2.3 太极半导体生产管理问题的根源 | 第36-37页 |
3.3 太极半导体封的信息系统和生产管控的分析 | 第37-40页 |
3.3.1 太极半导体的信息系统及其架构 | 第37-38页 |
3.3.2 生产管理系统(MES)和它所实现的功能 | 第38-40页 |
3.3.3 辅助的定制管控系统 | 第40页 |
3.4 太极半导体目前的管理方法及其瓶颈 | 第40-45页 |
3.4.1 通过标准化操作流程(SOP)管理减少误操作 | 第40-41页 |
3.4.2 通过条形码(Barcode)管理检验减少误操作 | 第41-42页 |
3.4.3 通过机器程序管控系统(RMS)管理减少用错程序 | 第42页 |
3.4.4 通过5S和六西格玛等QA管理手段减少废品率 | 第42-44页 |
3.4.5 各种管理方法的瓶颈 | 第44-45页 |
3.5 本章小结 | 第45-46页 |
第四章 将物联网RFID导入太极半导体实现智能化生产管理 | 第46-62页 |
4.1 太极半导体智能化生产化管理的实现方法 | 第46-51页 |
4.1.1 智能生产化管理的理念和设想 | 第46-47页 |
4.1.2 功能强大和复杂的生产管理系统(MES) | 第47-48页 |
4.1.3 将生产管理系统与其他管控系统整合成强大的开发平台 | 第48-49页 |
4.1.4 物联网RFID导入能实现太极半导体的智能化生产管理 | 第49-51页 |
4.2 物联网RFID导入太极半导体生产管理的具体方法 | 第51-54页 |
4.2.1 物联网导入硬件的增加 | 第51页 |
4.2.2 物联网导入的软件方面的增强 | 第51-52页 |
4.2.3 物联网实现对生产设备实质性管控的模型 | 第52-53页 |
4.2.4 物联网实现对生产设备管控后的意外管理 | 第53-54页 |
4.3 智能化生产管理实现从检查到控制的转变 | 第54-57页 |
4.3.1 智能生产化管理下的生产操作方法 | 第54-55页 |
4.3.2 智能化生产管理解决太极半导体现有的问题 | 第55-57页 |
4.4 物联网RFID引入的成本及收益分析 | 第57-60页 |
4.4.1 物联网RFID引入的成本分析 | 第57页 |
4.4.2 智能化生产管理的收益分析 | 第57-59页 |
4.4.3 智能化生产管理的竞争优势及附带效应 | 第59-60页 |
4.5 本章小结 | 第60-62页 |
第五章 结论与展望 | 第62-65页 |
5.1 本论文研究的结论 | 第62-63页 |
5.2 本论文的不足和未来的研究方向展望 | 第63-65页 |
参考文献 | 第65-66页 |
后记 | 第66-67页 |