摘要 | 第5-7页 |
abstract | 第7-8页 |
第一章 绪论 | 第11-20页 |
1.1 光学三维成像技术及其意义 | 第11-12页 |
1.2 三维测量技术的国内外研究现状 | 第12-17页 |
1.2.1 接触式三维测量技术 | 第12-13页 |
1.2.2 非接触式三维测量技术 | 第13-17页 |
1.3 相位测量偏折术中存在的问题 | 第17-19页 |
1.4 本论文的主要内容 | 第19-20页 |
第二章 相位测量偏折术理论分析和关键技术研究 | 第20-43页 |
2.1 相位测量偏折术理论分析 | 第20-28页 |
2.1.1 相位测量偏折术的相位梯度关系 | 第20-22页 |
2.1.2 梯度测量技术特性分析 | 第22-23页 |
2.1.3 相位测量偏折术的关键算法 | 第23-28页 |
2.2 相位测量偏折术系统参数分析 | 第28-30页 |
2.3 相位测量偏折术系统标定 | 第30-41页 |
2.3.1 相机标定 | 第30-33页 |
2.3.2 相位测量偏折术系统几何结构的标定 | 第33-35页 |
2.3.3 基于相位梯度解析表达式的新标定方法研究 | 第35-41页 |
2.4 本章小结 | 第41-43页 |
第三章 相位测量偏折术相位误差分析和消除方法研究 | 第43-63页 |
3.1 相位测量偏折术随机相位误差与非线性响应误差分析与消除 | 第43-49页 |
3.1.1 相位误差源分析 | 第43-44页 |
3.1.2 相位误差特性分析 | 第44-47页 |
3.1.3 相位误差特性与误差消除方法的实验研究 | 第47-49页 |
3.2 相位测量偏折术相位载频非线性畸变分析及消除方法研究 | 第49-56页 |
3.2.1 相位测量偏折术相位非线性载频解析模型 | 第49-51页 |
3.2.2 一种基于非线性载频解析模型的非线性载频移除方法原理 | 第51-53页 |
3.2.3 新的非线性载频移除方法的实验研究 | 第53-56页 |
3.3 单相机系统多义性分析以及消除方法研究 | 第56-62页 |
3.3.1 不含多义性误差的相位梯度关系解析表达式推导 | 第56-58页 |
3.3.2 一种低多义性误差的系统及其仿真和实验研究 | 第58-62页 |
3.4 本章小结 | 第62-63页 |
第四章 结构光三维成像技术中不连续区域误差补偿方法研究 | 第63-80页 |
4.1 结构光三维成像方法的不连续区域误差补偿的研究意义 | 第63-66页 |
4.2 不连续区域误差分析及误差补偿算法研究 | 第66-70页 |
4.2.1 条纹投影法结构光三维测量的基本原理 | 第66页 |
4.2.2 不连续区域误差产生机理 | 第66-68页 |
4.2.3 不连续区域误差模型 | 第68-69页 |
4.2.4 不连续区域误差消除算法 | 第69-70页 |
4.3 基于傅里叶描述子的亚像素边界检测方法研究 | 第70-76页 |
4.3.1 基于傅里叶描述子的亚像素边界检测方法的数学模型 | 第71-75页 |
4.3.2 基于傅里叶描述子的亚像素边界检测方法仿真和实验研究 | 第75-76页 |
4.4 不连续区域误差补偿实验研究 | 第76-79页 |
4.5 本章小结 | 第79-80页 |
第五章 相位测量偏折术动态测量方法研究 | 第80-90页 |
5.1 基于正交彩色复合结构光编码方式的动态测量方法 | 第80-81页 |
5.2 正交彩色条纹颜色通道串扰问题仿真分析 | 第81-83页 |
5.3 基于正交彩色条纹的相位测量偏折术动态测量实验研究 | 第83-89页 |
5.4 本章小结 | 第89-90页 |
第六章 基于相位测量偏折术的镜面物体测量系统研制及应用 | 第90-100页 |
6.1 基于相位测量偏折术的测量系统研制 | 第90-93页 |
6.2 基于相位测量偏折术的手机壳表面质量检测 | 第93-95页 |
6.3 基于相位测量偏折术的硅晶片表面质量检测 | 第95-96页 |
6.4 基于相位测量偏折术的光学反射镜表面质量检测 | 第96-98页 |
6.5 系统误差分析 | 第98-99页 |
6.6 本章小结 | 第99-100页 |
第七章 全文总结与展望 | 第100-104页 |
7.1 全文总结 | 第100-102页 |
7.2 后续工作展望 | 第102-104页 |
致谢 | 第104-105页 |
参考文献 | 第105-113页 |
攻读博士学位期间取得的成果 | 第113-115页 |