准确校准大电流DCC的分布式均匀化空间磁势法研究
摘要 | 第1-5页 |
ABSTRACT | 第5-11页 |
第一章 绪论 | 第11-31页 |
·直流大电流测量的应用 | 第11-13页 |
·直流大电流测量仪器及校准 | 第13-17页 |
·直流分流器 | 第13-14页 |
·霍尔变送器 | 第14页 |
·光纤直流大电流传感器 | 第14-15页 |
·磁调制式直流电流比较仪 | 第15-17页 |
·研究的目的和意义 | 第17-18页 |
·DCC国内外现状 | 第18-25页 |
·自校准方法的研究现状 | 第20-23页 |
·磁屏蔽技术的研究现状 | 第23-24页 |
·等安匝法的研究现状 | 第24-25页 |
·技术难点、主要研究内容和论文组织安排 | 第25-31页 |
·技术难点分析 | 第25页 |
·研究思路和关键技术 | 第25-26页 |
·研究方法 | 第26-27页 |
·主要研究内容和论文结构安排 | 第27-31页 |
第二章 串并联校准法 | 第31-45页 |
·引言 | 第31-33页 |
·串并联法 | 第33-37页 |
·与参考绕组法的比较 | 第37-42页 |
·低电流DCC及其校准 | 第37-41页 |
·不确定度评估 | 第41页 |
·串并联法的特点和讨论 | 第41-42页 |
·小结 | 第42-45页 |
第三章 磁屏蔽效能的解析和仿真优化设计 | 第45-59页 |
·引言 | 第45页 |
·磁屏蔽效能的解析公式 | 第45-50页 |
·含水平气隙的磁屏蔽效能计算公式 | 第47-48页 |
·含竖直气隙的磁屏蔽效能计算公式 | 第48-50页 |
·磁屏蔽效能的数值仿真 | 第50-57页 |
·屏蔽竖直方向磁场的屏蔽效能 | 第52-53页 |
·屏蔽水平方向磁场的屏蔽效能 | 第53-56页 |
·仿真结果与理论值的对比 | 第56-57页 |
·磁屏蔽设计原则 | 第57页 |
·小结 | 第57-59页 |
第四章 一次母线结构和参数的设计及优化 | 第59-77页 |
·引言 | 第59-60页 |
·DCC的数值仿真模型 | 第60-61页 |
·一次母线的干扰磁场 | 第61-66页 |
·泄漏磁场的影响 | 第62-63页 |
·杂散磁场的影响 | 第63-66页 |
·一次母线参数的优化设计 | 第66-69页 |
·一次母线匝数的影响 | 第66-67页 |
·母线与铁芯横截面中心的距离的影响 | 第67-68页 |
·一次母线窗口形状的影响 | 第68-69页 |
·小电流DCC的一次母线绕组 | 第69-71页 |
·外导体对DCC的影响 | 第71-73页 |
·外导体的长度 | 第71-72页 |
·外导体的方向 | 第72-73页 |
·磁屏蔽与优化布置母线的屏蔽效能比较 | 第73-74页 |
·干扰磁场影响的评估方法 | 第74-76页 |
·小结 | 第76-77页 |
第五章 DCC研制和比例的串并联自校准 | 第77-87页 |
·分布式均匀化空间磁势法的提出 | 第77-79页 |
·一次母线具有串并联结构的DCC研制 | 第79-82页 |
·串并联自校准程序和实验 | 第82-86页 |
·比较仪1:1 自校准 | 第82-84页 |
·比较仪n:1 同标称比例比较 | 第84-86页 |
·小结 | 第86-87页 |
第六章 测量不确定度评定和验证 | 第87-105页 |
·DCC主要不确定度分量测试 | 第87-94页 |
·磁势非线性 | 第87-89页 |
·一次母线干扰磁场的影响 | 第89-90页 |
·外电流导体影响 | 第90-92页 |
·串并联附加误差 | 第92-94页 |
·串并联校准法测量不确定度评定 | 第94-101页 |
·数学模型 | 第94-95页 |
·不确定度评定 | 第95-101页 |
·乘法验证 | 第101-103页 |
·小结 | 第103-105页 |
第七章 总结与展望 | 第105-109页 |
·总结 | 第105-107页 |
·进一步工作的建议 | 第107-109页 |
参考文献 | 第109-115页 |
发表论文和科研情况说明 | 第115-119页 |
致谢 | 第119页 |