| 致谢 | 第1-6页 |
| 摘要 | 第6-7页 |
| ABSTRACT | 第7-12页 |
| 第一章 引言 | 第12-18页 |
| ·研究背景与意义 | 第12-13页 |
| ·CSR-ETF 介绍 | 第13-16页 |
| ·研究内容 | 第16-18页 |
| 第二章 探测器的输出信号特点与信号处理方法 | 第18-37页 |
| ·探测器的输出信号特点 | 第18页 |
| ·信号处理的基本方法 | 第18-30页 |
| ·能量测量 | 第18-22页 |
| ·电荷幅度转换 | 第19-21页 |
| ·波形采样（ADC 型） | 第21-22页 |
| ·电荷时间转换（QTC） | 第22页 |
| ·时间测量 | 第22-30页 |
| ·定时甄别 | 第22-28页 |
| ·时间数字变换（TDC） | 第28-30页 |
| ·几种硅微条探测器读出电子学介绍 | 第30-37页 |
| ·MUSTII 项目的读出电子学系统 | 第30-33页 |
| ·ANKE 顶点探测器（ASIST）读出电子学系统 | 第33-34页 |
| ·ALICE 径迹探测器电子学系统 | 第34-35页 |
| ·ATLAS SCT 探测器电子学系统 | 第35-37页 |
| 第三章 CSR 外靶硅微条阵列探测器读出电子学 | 第37-80页 |
| ·硅微条探测器 | 第37-40页 |
| ·硅微条探测器介绍 | 第37-38页 |
| ·CSR 外靶硅微条探测器结构和要求 | 第38-39页 |
| ·软硬结合板介绍 | 第39-40页 |
| ·读出电子学结构框图 | 第40-42页 |
| ·前端电子学模块（FEE） | 第42-55页 |
| ·前端电子学 ASIC 芯片 | 第43-47页 |
| ·电荷灵敏前置放大器（CSA） | 第44-45页 |
| ·能量测量电路 | 第45页 |
| ·时间测量电路 | 第45-46页 |
| ·电压电流转换电路（VIC） | 第46页 |
| ·ASIC 输出模式 | 第46-47页 |
| ·测试信号产生电路 | 第47-49页 |
| ·LVDS 收发电路 | 第49-52页 |
| ·LVDS 简介 | 第49-51页 |
| ·LVDS 收发电路设计 | 第51-52页 |
| ·高压电路 | 第52-53页 |
| ·I2C 慢控总线 | 第53-55页 |
| ·I2C 总线介绍 | 第53-54页 |
| ·I2C 慢控总线的应用 | 第54-55页 |
| ·监视模块 | 第55页 |
| ·PXI-DAQ 数据采集板 | 第55-73页 |
| ·模拟信号转换电路 | 第56-57页 |
| ·光耦和 LVDS 收发模块 | 第57页 |
| ·模数转换（ADC） | 第57-61页 |
| ·ADC 的选择 | 第57-58页 |
| ·AD9248 介绍 | 第58-61页 |
| ·PXI 接口与 PXI 总线 | 第61-65页 |
| ·数据处理模块（FPGA） | 第65-73页 |
| ·FPGA 介绍与选择 | 第65-68页 |
| ·I2C 总线的实现 | 第68-69页 |
| ·快时序控制信号的实现 | 第69-70页 |
| ·PXI 通信的实现 | 第70-73页 |
| ·基于 PXI 总线的触发控制板设计 | 第73-76页 |
| ·触发控制板的功能 | 第73-74页 |
| ·触发判选的介绍 | 第74-76页 |
| ·电子学系统上位机程序设计 | 第76-80页 |
| ·PCI 设备驱动程序设计 | 第76-77页 |
| ·上位机应用程序设计 | 第77-80页 |
| 第四章 电子学测试与实验分析 | 第80-90页 |
| ·电子学测试 | 第80-86页 |
| ·积分非线性测试 | 第80-82页 |
| ·串扰测试 | 第82页 |
| ·能量分辨测试 | 第82-84页 |
| ·通道一致性测试 | 第84-85页 |
| ·长时间工作稳定性测试 | 第85-86页 |
| ·物理测试 | 第86-88页 |
| ·硅微条探测器粒子鉴别能力的估算 | 第88-90页 |
| 第五章 总结与展望 | 第90-92页 |
| ·总结 | 第90-91页 |
| ·展望 | 第91-92页 |
| 参考文献 | 第92-100页 |
| 附录 | 第100-104页 |
| 作者简历 | 第104页 |
| 发表文章 | 第104页 |