摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-11页 |
第1章 绪论 | 第11-19页 |
·研究背景和研究意义 | 第11-12页 |
·AMTEC 研究现状 | 第12-14页 |
·国外方面 | 第12-14页 |
·国内方面 | 第14页 |
·快离子导体的研究概况 | 第14-17页 |
·国外方面 | 第15-16页 |
·国内方面 | 第16-17页 |
·本文主要研究的内容 | 第17-19页 |
第2章 AMTEC 及其关键部件 BASE 的基本理论 | 第19-43页 |
·AMTEC 的工作原理与关键部件 | 第19-23页 |
·AMTEC 的工作原理 | 第19-22页 |
·AMTEC 的关键部件 | 第22-23页 |
·AMTEC 工作方式及热力学分析 | 第23-29页 |
·AMTEC 的工质方式 | 第23-24页 |
·不同方式的 p-v 和 T-s 图对比 | 第24-26页 |
·不同温度的 p-v 和 T-s 图对比 | 第26-27页 |
·AMTEC 的效率分析 | 第27-28页 |
·长平均自由程的假设 | 第28-29页 |
·多孔介质基础理论 | 第29-32页 |
·多孔介质关键参数 | 第30-31页 |
·多孔介质内传质过程控制方程 | 第31-32页 |
·BASE 的基础理论与工作过程 | 第32-42页 |
·BASE 的晶体结构 | 第33-37页 |
·BASE 的工作过程与原理 | 第37-39页 |
·BASE 离子电导率的影响因素 | 第39-40页 |
·多 BASE 管 AMTEC 性能分析 | 第40-42页 |
·本章小结 | 第42-43页 |
第3章 AMTEC 转换器的性能仿真分析 | 第43-63页 |
·AMTEC 关键部件数学模型 | 第43-50页 |
·BASE 的数学模型 | 第43-45页 |
·电极的数学模型 | 第45-50页 |
·BASE-电极组合模型 | 第50页 |
·BASE 性能仿真研究 | 第50-53页 |
·电极性能仿真研究 | 第53-60页 |
·晶粒增长模型的仿真研究 | 第53-55页 |
·电化学模型的仿真研究 | 第55-57页 |
·AMTEC 电极效率模型的仿真研究 | 第57-60页 |
·BASE-电极组合仿真研究 | 第60-62页 |
·本章小结 | 第62-63页 |
第4章 BASE 性能计算分析 | 第63-98页 |
·BASE 的物理模型及网格划分 | 第63-65页 |
·BASE 几何模型 | 第63-64页 |
·BASE 模型假设 | 第64页 |
·网格划分及求解器的选择 | 第64-65页 |
·求解域控制方程及边界条件 | 第65-73页 |
·求解域控制方程及物性参数 | 第65-72页 |
·边界条件设定 | 第72-73页 |
·BASE 性能计算及分析 | 第73-82页 |
·压力梯度与电场驱动对迁移速率的影响 | 第74-76页 |
·速度场的结果及分析 | 第76-77页 |
·浓度变化结果及分析 | 第77-78页 |
·电势场的结果及分析 | 第78-80页 |
·温度场的结果与分析 | 第80-82页 |
·结构参数对 BASE 性能的影响 | 第82-85页 |
·孔隙率对 BASE 内离子速度场的影响 | 第82-84页 |
·孔隙率对 BASE 内离子浓度分布的影响 | 第84-85页 |
·温度对 BASE 性能的影响 | 第85-94页 |
·不同 BASE 温度影响下压力与电势的分布 | 第85-87页 |
·BASE 温度对电极电压及功率密度的影响 | 第87-89页 |
·BASE 温度对迁移速度场的影响 | 第89-92页 |
·BASE 温度对浓度分布的影响 | 第92-94页 |
·低压侧压力对 BASE 性能的影响 | 第94-97页 |
·不同低压侧压力下压力与电势的分布 | 第94-95页 |
·低压侧压力对电极电压及功率密度的影响 | 第95-96页 |
·低压侧压力对浓度分布的影响 | 第96-97页 |
·本章小结 | 第97-98页 |
结论 | 第98-100页 |
参考文献 | 第100-108页 |
致谢 | 第108页 |