| 中文摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 目录 | 第5-6页 |
| 第一章 引言 | 第6-11页 |
| ·高纯锗γ谱仪系统 | 第6-8页 |
| ·无源效率刻度方法和使用现状 | 第8-9页 |
| ·本研究工作及意义 | 第9-11页 |
| ·LabSOCS无源效率刻度软件的特点及优势 | 第9页 |
| ·Gammacalib的特点和本研究的意义 | 第9-11页 |
| 第二章 γ谱测量与分析方法 | 第11-35页 |
| ·高纯锗γ谱仪测量分析原理 | 第11-31页 |
| ·γ射线简介 | 第11-12页 |
| ·γ射线测量 | 第12-14页 |
| ·半导体γ射线探测器 | 第14-21页 |
| ·ORTEC高纯锗γ谱仪系统 | 第21-23页 |
| ·γ能谱的构成 | 第23-24页 |
| ·ORTEC γ谱分析软件GammaVision简介 | 第24-26页 |
| ·γ谱测量一般操作过程 | 第26-31页 |
| ·无源效率刻度法 | 第31-35页 |
| ·无源效率刻度法的优点 | 第31页 |
| ·无源效率刻度法使用现状 | 第31-32页 |
| ·Canberra公司无源效率刻度软件 | 第32-33页 |
| ·蒙特卡罗方法简介 | 第33-35页 |
| 第三章 Gammacalib准确性实验验证和分析 | 第35-54页 |
| ·无源效率刻度软件GammaCalib简介 | 第35-39页 |
| ·GammaCalib V1.0测量标准品试验 | 第39-47页 |
| ·实验室条件 | 第39页 |
| ·无源效率曲线拟合 | 第39-45页 |
| ·测量结果与讨论 | 第45-47页 |
| ·三种效率刻度方法比较试验 | 第47-54页 |
| ·试验数据 | 第47-51页 |
| ·试验数据分析 | 第51-54页 |
| 第四章 结论 | 第54-56页 |
| 参考文献 | 第56-57页 |
| 在学期间的研究成果 | 第57-58页 |
| 致谢 | 第58页 |