| 摘要 | 第1-7页 |
| ABSTRACT | 第7-9页 |
| 目录 | 第9-12页 |
| 第1章 引言 | 第12-20页 |
| ·核辐射探测器简介 | 第12-14页 |
| ·核电子学信号处理系统 | 第14-15页 |
| ·国内外的核电子学信号处理系统发展 | 第15-18页 |
| ·国内外的数字能谱系统 | 第15-16页 |
| ·国内外的数字时间谱系统 | 第16-18页 |
| ·本论文的主要工作及特点 | 第18-19页 |
| ·本论文的内容组织 | 第19-20页 |
| 第2章 定时技术 | 第20-38页 |
| ·前沿定时 | 第21-24页 |
| ·信号幅度变化引起的时间游动 | 第21-22页 |
| ·信号上升时间变化引起的时间游动 | 第22-23页 |
| ·噪声引起的时间晃动 | 第23页 |
| ·信号统计涨落引起的时间晃动 | 第23-24页 |
| ·前沿定时的修正 | 第24页 |
| ·过零定时 | 第24-25页 |
| ·恒比定时 | 第25-27页 |
| ·幅度上升沿补偿定时 | 第27-28页 |
| ·模拟时间检出方式的比较 | 第28-29页 |
| ·数字恒比定时 | 第29-38页 |
| ·波形数字化 | 第30-32页 |
| ·数字信号处理 | 第32-38页 |
| 第3章 dCFD数字时间谱仪的硬件电路设计 | 第38-62页 |
| ·dCFD数字时间谱仪的方案概述 | 第38-39页 |
| ·成形模块 | 第39-46页 |
| ·极零相消 | 第39页 |
| ·抗混叠滤波 | 第39-41页 |
| ·单端转差分 | 第41-44页 |
| ·成形电路结构 | 第44-46页 |
| ·ADC模块 | 第46-47页 |
| ·FPGA(Field—Programmable Gate Array)模块 | 第47-51页 |
| ·Altera公司Cyclone Ⅲ系列FPGA | 第48-49页 |
| ·FPGA时钟设计 | 第49-50页 |
| ·FPGA电源设计 | 第50页 |
| ·FPGA配置 | 第50-51页 |
| ·DSP(Digital Signal Processor)模块 | 第51-55页 |
| ·DSP芯片结构特点 | 第51页 |
| ·TMS320VC5416 DSP主要特性 | 第51-54页 |
| ·DSP数据接口 | 第54-55页 |
| ·DSP配置方式 | 第55页 |
| ·USB模块 | 第55-59页 |
| ·USB总线介绍 | 第55-56页 |
| ·Cypress公司CY7C68013A USB芯片 | 第56-57页 |
| ·CY7C68013A接口方式 | 第57-58页 |
| ·CY7C68013A固件、驱动与配置方式 | 第58-59页 |
| ·其他部分设计 | 第59-62页 |
| ·信号布线设计 | 第59页 |
| ·板级电源设计 | 第59-62页 |
| 第4章 dCFD算法方案及算法设计 | 第62-94页 |
| ·dCFD算法方案 | 第62-63页 |
| ·FPGA逻辑设计 | 第63-75页 |
| ·全局时钟模块 | 第63-64页 |
| ·FIFO缓存模块 | 第64-65页 |
| ·TRIG触发模块 | 第65-66页 |
| ·FIR滤波模块 | 第66-68页 |
| ·去基线模块 | 第68-70页 |
| ·粗计数模块 | 第70页 |
| ·MUX分配模块 | 第70-72页 |
| ·DSP接口与控制模块 | 第72-74页 |
| ·USB接口与控制模块 | 第74-75页 |
| ·DSP逻辑设计 | 第75-86页 |
| ·DSP设计环境 | 第76-78页 |
| ·DSP初始化 | 第78页 |
| ·DSP接口函数 | 第78-80页 |
| ·DSP数字信号处理 | 第80-86页 |
| ·程序设计深入考虑 | 第86页 |
| ·USB逻辑设计 | 第86-88页 |
| ·USB固件(Firmware)设计 | 第86页 |
| ·USB驱动(Driver)设计 | 第86-87页 |
| ·USB用户程序(Borland C++)设计 | 第87-88页 |
| ·MATLAB算法设计 | 第88-94页 |
| ·信号建模 | 第88-89页 |
| ·FIR滤波器设计与仿真 | 第89-91页 |
| ·定时与分析算法设计 | 第91页 |
| ·GUI界面工程设计 | 第91-94页 |
| 第5章 系统测试 | 第94-116页 |
| ·ADC线性测试 | 第94-102页 |
| ·ADC静态非线性测试 | 第94-95页 |
| ·ADC动态非线性测试 | 第95-102页 |
| ·ADC动态性能指标测试 | 第102-104页 |
| ·电子学平台测试 | 第104-106页 |
| ·~(22)Na正电子测试 | 第106-110页 |
| ·测试结果与国内外实验结果对照 | 第110-112页 |
| ·CFD实验对照 | 第110-111页 |
| ·dCFD实验对照 | 第111-112页 |
| ·dCFD系统误差分析 | 第112-116页 |
| ·电子学系统误差 | 第112-114页 |
| ·数值插值系统误差 | 第114-116页 |
| 第6章 总结和展望 | 第116-120页 |
| ·工作总结 | 第116-117页 |
| ·工作展望 | 第117-120页 |
| 参考文献 | 第120-122页 |
| 附录 时间测量系统电路设计 | 第122-126页 |
| 致谢 | 第126-128页 |
| 攻读学位期间发表文章 | 第128页 |
