虚拟仪器技术在UPS电路板自动测试系统中的应用
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-8页 |
| 第一章 概述 | 第8-13页 |
| ·VEE Pro 简介 | 第8-9页 |
| ·课题背景 | 第9页 |
| ·设计思路 | 第9-10页 |
| ·课题意义 | 第10-11页 |
| ·系统设计与本文结构 | 第11-13页 |
| ·系统设计 | 第11页 |
| ·本文结构 | 第11-13页 |
| 第二章 相关理论与技术 | 第13-19页 |
| ·虚拟仪器技术 | 第13-15页 |
| ·虚拟仪器的产生和发展 | 第13-14页 |
| ·虚拟仪器的特点 | 第14页 |
| ·虚拟仪器的组成 | 第14-15页 |
| ·虚拟仪器技术的主要应用领域 | 第15页 |
| ·图形化编程 | 第15-16页 |
| ·GPIB 总线 | 第16-17页 |
| ·GPIB 通信机理 | 第16-17页 |
| ·MCU 技术 | 第17-19页 |
| ·单片机的特点 | 第17页 |
| ·单片机的应用领域 | 第17-19页 |
| 第三章 硬件设计 | 第19-28页 |
| ·自动测试系统的功能架构 | 第19-21页 |
| ·本系统功能简介 | 第19-20页 |
| ·设备介绍 | 第20-21页 |
| ·控制盒硬件设计 | 第21-25页 |
| ·芯片选型 | 第21-24页 |
| ·外围电路 | 第24-25页 |
| ·测试治具的设计制作 | 第25-26页 |
| ·系统整合 | 第26-28页 |
| 第四章 软件设计 | 第28-41页 |
| ·Agilent VEE Pro 软件介绍 | 第28-30页 |
| ·主要技术指标 | 第28-29页 |
| ·VEE 的特点 | 第29-30页 |
| ·自动测试软件部分 | 第30-32页 |
| ·系统主要模块 | 第30-31页 |
| ·系统流程 | 第31-32页 |
| ·仪器的连接与配置 | 第32-33页 |
| ·主要模块的设计 | 第33-38页 |
| ·主界面 | 第33-35页 |
| ·参数配置模块 | 第35页 |
| ·系统自检模块 | 第35-36页 |
| ·数据采集及处理 | 第36-37页 |
| ·数据显示模块 | 第37页 |
| ·数据存储模块 | 第37-38页 |
| ·控制盒软件部分 | 第38-41页 |
| ·开发工具MPLAB-IDE | 第38-39页 |
| ·程序设计 | 第39-41页 |
| 第五章 测试方法 | 第41-46页 |
| ·软件功能模块调试 | 第41-44页 |
| ·预备工作 | 第42页 |
| ·主界面模块的调试 | 第42-43页 |
| ·参数配置模块的调试 | 第43页 |
| ·系统自检模块的调试 | 第43页 |
| ·数据采集模块的调试 | 第43页 |
| ·数据显示模块的调试 | 第43-44页 |
| ·数据存储模块的调试 | 第44页 |
| ·单个测试项目模块的调试 | 第44页 |
| ·测试效果 | 第44页 |
| ·测试心得 | 第44-46页 |
| ·测试时间 | 第44-45页 |
| ·系统误判 | 第45-46页 |
| 第六章 总结与展望 | 第46-47页 |
| 参考文献 | 第47-49页 |
| 攻读学位期间公开发表的论文 | 第49-50页 |
| 附录A PIC16F877A-I/P 相关资料 | 第50-53页 |
| 附录B 设备通讯协议 | 第53-60页 |
| 致谢 | 第60-61页 |
| 详细摘要 | 第61-63页 |
