摘要 | 第1-9页 |
Abstract | 第9-10页 |
第一章 绪论 | 第10-13页 |
·研究的背景与意义 | 第10-11页 |
·研究的现状与存在的问题 | 第11-12页 |
·论文的内容与组织 | 第12-13页 |
第二章 DEM数据不确定性概念模型 | 第13-32页 |
·DEM数据源及其误差分析 | 第13-18页 |
·DEM数据源 | 第13-17页 |
·DEM数据源及其误差分析 | 第17-18页 |
·DEM误差源及误差分类 | 第18-19页 |
·DEM误差源分析 | 第18页 |
·DEM误差分类 | 第18-19页 |
·DEM质量描述指标 | 第19-23页 |
·DEM质量评估内容 | 第19-20页 |
·DEM质量元素分析与建立 | 第20-21页 |
·DEM质量度量指标 | 第21-23页 |
·影响DEM应用的主要质量元素 | 第23-25页 |
·DEM数据不确定性概念模型 | 第25-27页 |
·概念模型 | 第25页 |
·空间数据不确定性概念模型 | 第25-26页 |
·DEM数据不确定性概念模型 | 第26-27页 |
·1:5万 DEM生产过程分析 | 第27-29页 |
·数据源 | 第27-28页 |
·1:5万DEM生产流程 | 第28页 |
·质量控制方法 | 第28-29页 |
·1:5万 DEM数据不确定性概念模型 | 第29-31页 |
·本章小结 | 第31-32页 |
第三章 1:5万DEM质量分析 | 第32-45页 |
·内插算法分析 | 第32-38页 |
·1:5万DEM生产内插算法 | 第32-34页 |
·1:5万DEM生产内插算法对典型地貌适应性分析 | 第34-38页 |
·数据精度分析 | 第38-44页 |
·实地检验分析 | 第38-42页 |
·与其它数据源生成 DEM检验分析 | 第42-43页 |
·格网间距分析 | 第43-44页 |
·实际应用分析 | 第44页 |
·本章小结 | 第44-45页 |
第四章 1:5万DEM质量评估方法研究 | 第45-71页 |
·现有DEM质量评估方法分析 | 第45-48页 |
·现有质量评估方法介绍 | 第45页 |
·现有质量评估方法分析 | 第45-48页 |
·现有DEM质量评估方法适应性分析 | 第48-49页 |
·现有质量评估方法与质量评估内容及度量指标分析 | 第48页 |
·现有质量评估方法适应性分析 | 第48-49页 |
·1:5万DEM数据形式检查 | 第49-52页 |
·1:5万 DEM数据文件分析 | 第49-50页 |
·1:5万 DEM数据元数据建立 | 第50页 |
·1:5万 DEM数据形式检查 | 第50-52页 |
·基于回放等高线栅格图的1:5万DEM质量评估 | 第52-61页 |
·基于回放等高线的DEM质量评估优点及现状 | 第52页 |
·基于回放等高线栅格图的1:5万DEM质量评估设计 | 第52-53页 |
·基于回放等高线栅格图的1:5万DEM质量评估数据形成 | 第53-57页 |
·基于回放等高线栅格图的1:5万DEM误差分布评估 | 第57-58页 |
·基于回放等高线栅格图的1:5万DEM误差分布度量 | 第58-60页 |
·基于回放等高线栅格图的1:5万DEM高程质量评估 | 第60-61页 |
·缺陷统计与检查点结合的1:5万DEM质量评估方法 | 第61-63页 |
·缺陷统计及其在空间数据质量评估中的应用 | 第61页 |
·现有检查点法DEM质量评估方法分析 | 第61-62页 |
·缺陷统计与检查点结合的1:5万DEM质量评估方法 | 第62-63页 |
·基于剖面的1:5万 DEM接边质量评估 | 第63-65页 |
·现有DEM接边质量评估方法分析 | 第63-64页 |
·基于剖面的1:5万 DEM接边质量评估 | 第64-65页 |
·1:5万DEM质量评估方法的分析与验证 | 第65-70页 |
·基于回放等高线栅格图的1:5万DEM质量评估的分析与验证 | 第65-67页 |
·基于剖面的1:5万DEM接边质量评估的分析与验证 | 第67-69页 |
·缺陷统计与检查点结合的1:5万DEM质量评估方法分析与验证 | 第69-70页 |
·本章小结 | 第70-71页 |
第五章 1:5万DEM质量评估方法系统的设计与实现 | 第71-77页 |
·系统的设计背景 | 第71页 |
·系统的功能设计 | 第71-76页 |
·DEM生成 | 第72-73页 |
·数据形式检查 | 第73-74页 |
·常规质量评估 | 第74页 |
·文件输出 | 第74页 |
·改进质量评估 | 第74-76页 |
·本章小结 | 第76-77页 |
第六章 总结与展望 | 第77-78页 |
参考文献 | 第78-81页 |
附录 | 第81-82页 |
致谢 | 第82页 |