辐射抗干扰度测试平台的软件开发和应用
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-11页 |
| ·课题的研究背景 | 第9页 |
| ·课题研究的现状和存在的问题 | 第9-10页 |
| ·课题研究的内容 | 第10-11页 |
| 第2章 测试平台的原理 | 第11-22页 |
| ·电磁兼容的介绍 | 第11-15页 |
| ·电磁兼容的组成 | 第11-12页 |
| ·电磁兼容测试 | 第12-15页 |
| ·测量的原理 | 第15-22页 |
| ·TEM暗小室的测量原理 | 第15-18页 |
| ·近场测试的原理 | 第18-22页 |
| 第3章 系统的概述 | 第22-26页 |
| ·设计概述 | 第22页 |
| ·开发工具 | 第22-24页 |
| ·Labwindows | 第23页 |
| ·HFSS | 第23页 |
| ·GPIB | 第23-24页 |
| ·抗干扰度测试的步骤 | 第24-26页 |
| 第4章 平台的硬件校正 | 第26-46页 |
| ·TEM暗小室的硬件校正 | 第26-35页 |
| ·TEM暗小室的设置 | 第26-27页 |
| ·TEM暗小室的校准 | 第27-31页 |
| ·衰减器的校正 | 第31-35页 |
| ·进场测试的硬件校正 | 第35-46页 |
| ·近场测试的设置 | 第35-36页 |
| ·探头的校正 | 第36-39页 |
| ·探头的电磁场 | 第39-46页 |
| 第5章 平台的软件设计 | 第46-64页 |
| ·抗干扰度测试的结构 | 第46-48页 |
| ·评判错误的准则 | 第48页 |
| ·软件的算法 | 第48-49页 |
| ·测试的参数 | 第49-52页 |
| ·TEM暗小室测试功能 | 第52-54页 |
| ·近场测试功能 | 第54页 |
| ·反转芯片的抗干扰度测试 | 第54-64页 |
| ·在 TEM暗小室平台中的测试 | 第54-57页 |
| ·在近场测试平台中的测试 | 第57-64页 |
| 第6章 软件的扩展 | 第64-70页 |
| ·放射测试 | 第64-68页 |
| ·放射测试的设置 | 第64-66页 |
| ·放射测试功能 | 第66页 |
| ·反转器的辐射测试 | 第66-68页 |
| ·探头的校正 | 第68-70页 |
| ·探头校正的设置 | 第68-69页 |
| ·探头校正功能 | 第69-70页 |
| 第7章 结束语 | 第70-71页 |
| 参考文献 | 第71-74页 |
| 致谢 | 第74-75页 |
| 作者在攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第75-76页 |
| 附录 | 第76页 |
