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氧化物薄膜应力的X射线衍射表征与研究

摘要第1-5页
ABSTRACT第5-10页
第一章 绪论第10-18页
   ·概述第10页
   ·薄膜中的残余应力第10-13页
     ·薄膜应力的研究意义第10-11页
     ·薄膜应力研究现状第11-13页
   ·应变工程第13-14页
   ·薄膜的制备技术第14-16页
     ·分子束外延方法第14页
     ·溅射镀膜法第14-15页
     ·脉冲激光沉积法第15页
     ·MOD 沉积法第15-16页
   ·本文研究的目的、方法和内容第16-18页
     ·本文研究的目的第16页
     ·本文研究的方法第16-17页
     ·本实验研究的内容第17-18页
第二章 实验平台的建立第18-28页
   ·实验仪器简介第18-19页
   ·样品的制备第19页
   ·应力测量方法及原理第19-22页
   ·三轴应力分析方法第22-23页
   ·外延应变的倒易空间分析方法第23-28页
     ·倒易空间图的基本原理第23-25页
     ·倒易空间的实验扫描模式第25-26页
     ·外延应变的精确测定原理第26-28页
第三章 BST 铁电薄膜微结构和残余应力研究第28-40页
   ·铁电基本理论第28-31页
   ·铁电薄膜第31-33页
     ·背景第31-32页
     ·BST 铁电薄膜的应用第32-33页
   ·实验第33页
     ·样品的制备第33页
     ·分析测试第33页
   ·结果与讨论第33-37页
     ·微结构与残余应力第33-34页
     ·残余应力的测量第34-37页
   ·晶粒大小第37-38页
   ·表面形貌第38页
   ·本章小结第38-40页
第四章 CFO 薄膜微结构、残余应力及磁性能研究第40-46页
   ·尖晶石铁氧体晶体结构和基本特性第40-41页
   ·背景第41页
   ·实验第41-45页
     ·样品的制备第41页
     ·XRD 分析第41-42页
     ·结果与讨论第42-45页
   ·本章小结第45-46页
第五章 YBCO 高温超导薄膜微结构和临界电流密度的研究第46-57页
   ·超导电性机理及存在的问题第46-47页
     ·高温超导机理第46-47页
     ·存在的问题第47页
   ·高温超导体晶体结构和基本特性第47-48页
   ·背景第48-49页
   ·高温超导材料的应用第49页
   ·样品的制备及实验方法第49-51页
     ·样品制备第49-50页
     ·X 射线衍射分析第50-51页
   ·结果与讨论第51-55页
   ·本章小结第55-57页
第六章 结论第57-59页
致谢第59-60页
参考文献第60-64页
攻硕期间取得研究成果第64-65页

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