| 中文摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-20页 |
| ·前言 | 第7-8页 |
| ·低温烧结压电陶瓷材料概述 | 第8-15页 |
| ·低温烧结压电陶瓷材料的研究意义 | 第8-9页 |
| ·低温烧结压电陶瓷材料的研究现状 | 第9-10页 |
| ·低温烧结压电陶瓷材料的实现方法 | 第10-12页 |
| ·低温烧结压电陶瓷的应用 | 第12-15页 |
| ·PMS-PZT材料研究进展 | 第15-19页 |
| ·三元含铅系压电陶瓷材料的进展 | 第15-17页 |
| ·PMS-PZT压电陶瓷材料的研究进展 | 第17-18页 |
| ·PMS-PZT压电陶瓷材料的低温烧结机理 | 第18-19页 |
| ·本课题主要工作 | 第19-20页 |
| 第二章 实验过程及测试 | 第20-26页 |
| ·原料及设备 | 第20-21页 |
| ·工艺选取 | 第21页 |
| ·性能测试及仪器装置 | 第21-26页 |
| ·相对介电常数ε_(33)~T/ ε_0 及介电损耗tanδ | 第21页 |
| ·压电应变常数d_(33) | 第21-23页 |
| ·机电耦合系数Kp和机械品质因素Qm | 第23-24页 |
| ·居里温度Tc | 第24-25页 |
| ·显微结构及相组成 | 第25页 |
| ·体积密度 | 第25-26页 |
| 第三章 PMS-PZT压电陶瓷配方的确定 | 第26-42页 |
| ·Zr/Ti比对PMS-PZT压电陶瓷性能的影响 | 第27-31页 |
| ·物相分析 | 第27-28页 |
| ·显微结构 | 第28页 |
| ·介电和压电性能 | 第28-30页 |
| ·居里温度 | 第30-31页 |
| ·PMS-PZT压电陶瓷第三组元PMS含量的确定 | 第31-35页 |
| ·物相分析 | 第31-32页 |
| ·显微结构 | 第32页 |
| ·介电和压电性能 | 第32-34页 |
| ·居里温度 | 第34-35页 |
| ·SiO_2含量对PMS-PZT压电陶瓷性能的影响 | 第35-41页 |
| ·物相分析 | 第35-37页 |
| ·体积密度和显微结构 | 第37-38页 |
| ·介电和压电性能 | 第38-39页 |
| ·居里温度 | 第39-41页 |
| ·本章小结 | 第41-42页 |
| 第四章 PMS-PZT压电陶瓷制备工艺的研究 | 第42-52页 |
| ·烧结工艺对PMS-PZT压电陶瓷性能的影响 | 第42-47页 |
| ·烧结温度 | 第42-45页 |
| ·保温时间 | 第45-47页 |
| ·极化工艺对PMS-PZT压电陶瓷性能的影响 | 第47-51页 |
| ·极化场强 | 第47-48页 |
| ·极化温度 | 第48-49页 |
| ·极化时间 | 第49-51页 |
| ·本章小结 | 第51-52页 |
| 第五章 结论 | 第52-53页 |
| 参考文献 | 第53-58页 |
| 发表论文和科研情况说明 | 第58-59页 |
| 致谢 | 第59页 |