第1章 绪论 | 第1-19页 |
·研究背景 | 第9-11页 |
·国内外研究概况及发展动态 | 第11-17页 |
·谷物干燥技术与设备 | 第11-12页 |
·谷物干燥的过程模型和分析 | 第12-13页 |
·干燥过程控制技术 | 第13-15页 |
·主元分析技术的发展与应用 | 第15-17页 |
·主要研究内容 | 第17-19页 |
第2 章谷物干燥过程的复杂性描述和品质影响因素分析 | 第19-37页 |
·谷物干燥机理 | 第19-20页 |
·干燥过程的复杂性描述 | 第20-23页 |
·谷物干燥过程中颗粒内部应力分析与预测 | 第23-28页 |
·应力裂纹生成机理 | 第24页 |
·干燥应力模型 | 第24-26页 |
·干燥应力预测 | 第26-28页 |
·干燥过程品质影响因素分析及实验研究 | 第28-33页 |
·干燥条件对谷物品质的影响 | 第28-30页 |
·干燥过程玉米品质影响因素的实验研究 | 第30-33页 |
·干燥过程谷物品质劣变模型 | 第33-35页 |
·谷物品质模型 | 第33-34页 |
·谷物品质模拟 | 第34页 |
·模型验证 | 第34-35页 |
·本章小结 | 第35-37页 |
第3 章基于相似理论的干燥过程预测模型 | 第37-63页 |
·相似理论与量纲分析原理 | 第37-40页 |
·干燥过程谷物水分的相似准则 | 第40-50页 |
·谷物水分相似准则的导出 | 第40-42页 |
·谷物水分的相似型经验公式 | 第42-50页 |
·干燥过程谷物温度的相似准则 | 第50-59页 |
·谷物温度相似准则的导出 | 第50-52页 |
·谷物温度相似型经验公式 | 第52-59页 |
·基于相似理论的干燥过程控制 | 第59-62页 |
·本章小结 | 第62-63页 |
第4 章谷物干燥过程品质控制策略研究 | 第63-76页 |
·谷物干燥过程的层级 | 第63页 |
·干燥过程微环境控制的提出 | 第63-64页 |
·干燥过程品质控制模型 | 第64-69页 |
·主要子状态 | 第66-67页 |
·直接环境子状态 | 第67-68页 |
·间接环境子状态 | 第68页 |
·模型结构 | 第68-69页 |
·干燥过程控制结构 | 第69-73页 |
·控制结构的建立 | 第70-71页 |
·应用约束 | 第71页 |
·时间尺度的分解 | 第71-72页 |
·信息的有效性 | 第72页 |
·控制结构的局限性 | 第72-73页 |
·控制单元 | 第73-74页 |
·品质控制器 | 第73页 |
·环境控制器 | 第73-74页 |
·本地硬件控制器 | 第74页 |
·本章小结 | 第74-76页 |
第5 章干燥过程主元分析及其优化模型 | 第76-86页 |
·主元分析方法 | 第76-78页 |
·干燥过程主元分析 | 第78-82页 |
·干燥过程主元模型 | 第82-84页 |
·本章小结 | 第84-86页 |
第6 章玉米干燥过程品质控制系统 | 第86-117页 |
·玉米干燥过程品质控制方法 | 第86-92页 |
·控制系统的要求 | 第86-87页 |
·智能控制方法 | 第87-92页 |
·玉米干燥工艺及系统 | 第92-93页 |
·玉米干燥品质控制系统的硬件设计与分析 | 第93-102页 |
·基于 R5485 串行总线的分布式测控技术 | 第94-95页 |
·AI 人工智能测控仪表 | 第95-97页 |
·玉米水分在线传感器 | 第97-99页 |
·热风温度单元 | 第99页 |
·变频器 | 第99-101页 |
·各传感器的故障诊断 | 第101-102页 |
·玉米过程干燥品质控制系统的软件开发与分析 | 第102-110页 |
·系统功能介绍 | 第102-104页 |
·R5485 通信 | 第104-106页 |
·CRC 校验 | 第106-107页 |
·数据显示与存储 | 第107-108页 |
·过程控制 | 第108-110页 |
·实验与分析 | 第110-115页 |
·实验结果处理方法 | 第110-111页 |
·实验结果与分析 | 第111-115页 |
·本章小结 | 第115-117页 |
第7 章全文总结 | 第117-120页 |
·总结 | 第117-119页 |
·展望 | 第119-120页 |
参考文献 | 第120-129页 |
致谢 | 第129-130页 |
攻博期间发表的学术论文及其他成果 | 第130-132页 |
摘要 | 第132-135页 |
Abstract | 第135-138页 |