磁共振用超导磁体的磁场均匀性研究
| 摘要 | 第1-8页 |
| 符号说明 | 第8-9页 |
| 第1章 前言 | 第9-16页 |
| 1．1 磁共振的应用及现状 | 第9页 |
| 1．2 超导体的分类、磁特性及应用 | 第9-12页 |
| 1．2．1 超导体的分类 | 第10页 |
| 1．2．2 超导体的磁特性 | 第10-11页 |
| 1．2．3 实用超导磁体及其在生活中的应用 | 第11-12页 |
| 1．3 超导磁体主要的性能指标 | 第12页 |
| 1．4 当前磁共振用超导磁体主要的匀场方法 | 第12-14页 |
| 1．5 当前主要的测量工具及方法 | 第14页 |
| 1．6 本文的主要工作 | 第14-16页 |
| 第2章 MR/I成像原理 | 第16-24页 |
| 2．1 自旋核在静磁场的变化 | 第16-17页 |
| 2．2 坐标系的引入 | 第17-19页 |
| 2．2．1 纵向磁化 | 第17页 |
| 2．2．2 横向磁化 | 第17-19页 |
| 2．3 MR信号 | 第19-24页 |
| 2．3．1 T1加权图像 | 第21-22页 |
| 2．3．2 质子密度加权像 | 第22页 |
| 2．3．3 T2加权图像 | 第22-24页 |
| 第3章 傅立叶变换与场强自动测量的设计思想 | 第24-35页 |
| 3．1 傅立叶变换 | 第24-28页 |
| 3．1．1 傅立叶级数与傅立叶变换 | 第24页 |
| 3．1．2 常用的傅立叶变换对 | 第24-28页 |
| 3．2 磁场场强磁共振法自动测量的设计思想 | 第28-35页 |
| 3．2．1 受检层层厚的选择方法 | 第28-30页 |
| 3．2．2 频率编码与相位编码 | 第30-32页 |
| 3．2．3 K空间 | 第32-33页 |
| 3．2．4 场强自动测量的设计思想 | 第33-35页 |
| 第4章 硬件配置及匀场线圈的分析 | 第35-51页 |
| 4．1 硬件配置 | 第35-51页 |
| 4．1．1 射频系统 | 第35页 |
| 4．1．2 计算机系统 | 第35页 |
| 4．1．3 磁体 | 第35-37页 |
| 4．1．4 主磁场线圈 | 第37-38页 |
| 4．1．5 梯度线圈 | 第38-39页 |
| 4．1．6 匀场线圈 | 第39-51页 |
| 第5章 匀场扫描序列及水膜的设计 | 第51-55页 |
| 5．1 匀场序列及平面扫描方法 | 第51-52页 |
| 5．2 水膜 | 第52-55页 |
| 5．2．1 水膜的设计 | 第52-53页 |
| 5．2．2 水膜的定位与扫描 | 第53-55页 |
| 第6章 超导匀场线圈电流的计算与优化结果 | 第55-59页 |
| 6．1 计算方法 | 第55-56页 |
| 6．1 优化结果 | 第56-59页 |
| 第7章 自动匀场软件的使用 | 第59-64页 |
| 7．1 LV Shim软件使用流程框图 | 第59-61页 |
| 7．1 LV Shim软件的使用 | 第61-64页 |
| 第8章 结束语 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-67页 |
| 致谢 | 第67-69页 |
