轻敲模式原子力显微镜和锁相检测的研究
| 第一章 绪论 | 第1-20页 |
| ·扫描探针显微术发展的历史背景 | 第6-15页 |
| ·从光学显微镜到扫描隧道显微镜 | 第6-9页 |
| ·从扫描隧道显微镜到原子力显微镜 | 第9-11页 |
| ·扫描探针显微术理论和类型介绍 | 第11-15页 |
| ·扫描探针显微术的发展现状 | 第15-17页 |
| ·扫描探针显微镜的商业化应用及存在的问题 | 第15-16页 |
| ·目前的主要研究方向 | 第16-17页 |
| ·本课题研究内容和目的 | 第17-20页 |
| 第二章 原子力显微镜工作模式 | 第20-28页 |
| ·空气中和液体中斥力模式 | 第20-21页 |
| ·非接触模式 | 第21-24页 |
| ·轻敲力模型与轻敲模式 | 第24-28页 |
| ·轻敲力模型 | 第24-25页 |
| ·轻敲模式(Tapping Mode) | 第25-28页 |
| 第三章 轻敲模式原子力显微镜的系统设计 | 第28-45页 |
| ·整体结构 | 第28-29页 |
| ·AFM的关键部分--力传感器选择 | 第29-33页 |
| ·力传感器要求 | 第29-25页 |
| ·常见力传感器制备方法 | 第25-32页 |
| ·本系统选择的力传感器和特性参数 | 第32-33页 |
| ·微弱力检测装置设计 | 第33-36页 |
| ·点衍射干涉分析 | 第34-36页 |
| ·微弱信号检测 | 第36-40页 |
| ·锁相放大器的原理 | 第37-38页 |
| ·实际的锁相放大器 | 第38-70页 |
| ·锁相放大器的数学推导 | 第70-40页 |
| ·反馈控制系统设计 | 第40-45页 |
| ·反馈控制系统设计概述 | 第41页 |
| ·PID反馈控制电路 | 第41-42页 |
| ·本系统反馈控制系统分析 | 第42-45页 |
| 第四章 电路设计调试与软件优化 | 第45-75页 |
| ·频率合成器部分 | 第45-56页 |
| ·频率合成器功能需求和设计原理 | 第45-46页 |
| ·MC145151锁相环芯片简介和应用分析 | 第46-49页 |
| ·MAX038芯片简介和应用分析 | 第49-51页 |
| ·频率合成器部分工作原理 | 第51-52页 |
| ·频率合成器电路线路板制作及其调试 | 第52-56页 |
| ·锁相检测回路部分 | 第56-63页 |
| ·相位成像技术 | 第56页 |
| ·锁相检测回路功能分析和设计原理 | 第56-58页 |
| ·鉴相部分 | 第58-59页 |
| ·低通滤波部分 | 第59-60页 |
| ·锁相检测部分电路线路板制作及其调试 | 第60-63页 |
| ·反馈控制回路部分 | 第63-67页 |
| ·反馈控制回路功能分析和设计原理 | 第63-64页 |
| ·鉴相器部分和低通滤波部分 | 第64页 |
| ·比较积分电路部分 | 第64-65页 |
| ·高压放大电路部分 | 第65-67页 |
| ·软件系统设计及其优化 | 第67-75页 |
| ·软件系统整体框架和说明 | 第67-68页 |
| ·扫描及数据采集程序 | 第68-70页 |
| ·采集卡编程 | 第70-71页 |
| ·图像处理编程 | 第71-73页 |
| ·程序AFM2003中的改进 | 第73-75页 |
| 第五章 联机实验与结果分析 | 第75-80页 |
| ·联机实验前准备工作 | 第75-76页 |
| ·实验结果分析 | 第76-78页 |
| ·镀氧化铝玻璃样品表面 | 第76-77页 |
| ·其它一些测试结果 | 第77-78页 |
| ·下一步工作展望 | 第78-80页 |
| 硕士期间已发表论文 | 第80-81页 |
| 致谢 | 第81页 |
