| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第6-10页 |
| ·电子装备试验中传统的数据处理方法简介 | 第6-7页 |
| ·传统方法的评价 | 第7-8页 |
| ·Bayes小子样方法的进展和研究现状 | 第8-9页 |
| ·本文的主要创新工作 | 第9-10页 |
| 第二章 Bayes方法基本原理 | 第10-22页 |
| ·统计推断中所应用的三种信息 | 第10-11页 |
| ·Bayes方法的产生及其基本观点 | 第11-13页 |
| ·先验分布的计算方法 | 第13-17页 |
| ·后验分布的计算方法 | 第17-18页 |
| ·共轭分布 | 第18-20页 |
| ·Bayes方法的评价 | 第20-22页 |
| 第三章 Bayes统计推断 | 第22-35页 |
| ·Bayes统计推断的基本理论 | 第22-25页 |
| ·正态总体未知参数μ、σ~2的Bayes估计 | 第25-32页 |
| ·二项分布总体未知参数p的Bayes估计 | 第32-35页 |
| 第四章 序贯验后加权检验与小子样试验方法 | 第35-52页 |
| ·序贯验后加权检验方法 | 第35-38页 |
| ·正态总体分布(μ，σ~2)联合分布的验后加权检验 | 第38-48页 |
| ·二项分布总体未知参数p的验后加权检验 | 第48-52页 |
| 第五章 电子装备小子样试验方法应用及分析 | 第52-65页 |
| ·雷达方程及雷达探测距离的替代等效推算模型 | 第52-54页 |
| ·正态总体中均值和方差的联合统计检验及分析 | 第54-60页 |
| ·二项总体中p参数的统计检验及分析 | 第60-65页 |
| 结束语 | 第65-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-68页 |