| 第一章 绪论 | 第1-9页 |
| §1．1 课题意义 | 第7页 |
| §1．2 课题背景及现状 | 第7-8页 |
| §1．3 课题内容 | 第8-9页 |
| 第二章 试验模型 | 第9-10页 |
| 第三章 计算软件及方法 | 第10-16页 |
| §3．1 ANSYS软件介绍 | 第10页 |
| §3．2 ANSYS分析 | 第10-12页 |
| §3．2．1 前处理 | 第10-11页 |
| §3．2．2 方程求解器 | 第11页 |
| §3．2．3 后处理 | 第11-12页 |
| §3．3 ANSYS电磁场模块 | 第12-13页 |
| §3．4 计算方法 | 第13-16页 |
| 第四章 计算模型及结果 | 第16-41页 |
| §4．1 250正常绝缘子（前半段）计算结果 | 第16-17页 |
| §4．2 250正常绝缘子（后半段）计算结果 | 第17-18页 |
| §4．3 500正常绝缘子计算结果 | 第18-19页 |
| §4．4 250金属短路故障1（Φ1．5×50mm）计算结果 | 第19-20页 |
| §4．5 250金属短路故障2（Φ1．5×100mm）计算结果 | 第20页 |
| §4．6 500金属短路故障1（Φ1．5×50mm）计算结果 | 第20-21页 |
| §4．7 500金属短路故障2（Φ1．5×100mm）计算结果 | 第21-22页 |
| §4．8 500中部金属短路故障3（Φ1．5×150mm）计算结果 | 第22-26页 |
| §4．9 250后半段小气泡在伞根部计算结果 | 第26-27页 |
| §4．10 250后半段小气泡在伞裙里计算结果 | 第27-28页 |
| §4．11 250后半段小气泡在绝缘子中部计算结果 | 第28页 |
| §4．12 250后半段金属杂质在伞根部计算结果 | 第28-29页 |
| §4．13 250后半段金属杂质在伞裙里计算结果 | 第29页 |
| §4．14 500绝缘子端部有长气泡（Φ1．5×100mm）计算结果 | 第29-30页 |
| §4．15 500绝缘子端部有半导体通道（Φ1．5×100mm）故障计算结果 | 第30-31页 |
| §4．16 500绝缘子芯棒未处理计算结果 | 第31-32页 |
| §4．17 验证外绝缘干闪能否诱导绝缘子中部小气泡放电计算结果 | 第32-33页 |
| §4．18 计算结果与讨论 | 第33-41页 |
| §4．18．1 正常绝缘子 | 第34-35页 |
| §4．18．2 内部有放电通道的故障绝缘子 | 第35-37页 |
| §4．18．3 绝缘子护套伞裙中夹杂小气泡 | 第37-38页 |
| §4．18．4 绝缘子护套伞裙中夹杂金属颗粒杂质 | 第38页 |
| §4．18．5 绝缘子护套—芯棒界面上有长气泡 | 第38-39页 |
| §4．18．6 各种情况下试品的最大场强及发生位置 | 第39-41页 |
| 第五章 硅橡胶材料的雷电冲击耐受强度试验 | 第41-53页 |
| §5．1 试验设备及试验回路 | 第41-43页 |
| §5．2 测量系统 | 第43-45页 |
| §5．3 试验原理 | 第45-50页 |
| §5．3．1 原理 | 第45-47页 |
| §5．3．2 （?）_（50）及（?）的计算 | 第47-48页 |
| §5．3．3 电压级差d及每级电压下加压次数1的选定 | 第48-49页 |
| §5．3．4 被试样品数N的选择 | 第49-50页 |
| §5．3．5 试验控制数γ | 第50页 |
| §5．4 试验过程及试验结果 | 第50-53页 |
| 第六章 硅橡胶材料的陡波冲击耐受强度试验 | 第53-55页 |
| 第七章 结论 | 第55-56页 |
| 参考文献 | 第56-59页 |
| 致谢 | 第59页 |
