| 中文摘要 | 第1-4页 |
| 英文摘要 | 第4-5页 |
| 目录 | 第5-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-15页 |
| §1．1 引言 | 第7页 |
| §1．2 非球面特性及用途 | 第7-10页 |
| §1．3 非球面检测技术发展概述 | 第10-13页 |
| §1．4 本课题主要研究内容 | 第13-15页 |
| 第二章 干涉条纹图的一般处理方法 | 第15-29页 |
| §2．1 预处理 | 第15-18页 |
| §2．2 山脊线检出 | 第18-20页 |
| §2．3 细线化 | 第20-22页 |
| §2．4 条纹的插值 | 第22-28页 |
| §2．5 本章小结 | 第28-29页 |
| 第三章 激光波长扫描干涉测试原理及系统 | 第29-51页 |
| §3．1 激光波长扫描干涉测试原理 | 第29-30页 |
| §3．2 激光波长扫描干涉仪的组成 | 第30-31页 |
| §3．3 波长可调谐的激光光源 | 第31-36页 |
| §3．3．1 染料激光器 | 第32页 |
| §3．3．2 准分子激光器 | 第32-33页 |
| §3．3．3 高压气体分子激光器 | 第33页 |
| §3．3．4 过渡金属离子激光器 | 第33页 |
| §3．3．5 色心激光器 | 第33-34页 |
| §3．3．6 半导体激光器 | 第34-36页 |
| §3．4 波长可调谐的半导体激光光源特性 | 第36-43页 |
| §3．4．1 使用的半导体激光器 | 第36-41页 |
| §3．4．2 半导体激光器的输入电流与波长的关系 | 第41-42页 |
| §3．4．3 半导体激光器的输入电流与光强度的关系 | 第42-43页 |
| §3．4．4 半导体激光器的驱动装置 | 第43页 |
| §3．5 实验用光学系统 | 第43-50页 |
| §3．5．1 原理系统 | 第43-45页 |
| §3．5．2 实验用光学系统 | 第45页 |
| §3．5．3 光程差的设定 | 第45页 |
| §3．5．4 干涉图读入系统 | 第45-50页 |
| §3．6 本章小结 | 第50-51页 |
| 第四章 波长扫描干涉图处理 | 第51-58页 |
| §4．1 干涉图的读入及抽取 | 第51-53页 |
| §4．2 条纹扫描周期的自动确定 | 第53-54页 |
| §4．3 相位分布计算 | 第54-57页 |
| §4．4 本章小结 | 第57-58页 |
| 结论 | 第58-59页 |
| 致谢 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-62页 |