| 引言 | 第1-9页 |
| 第一章 测试原理及方法 | 第9-23页 |
| ·反向恢复时间T_(RR)的测试原理及方法 | 第9-12页 |
| ·正向压降V_F | 第12-13页 |
| ·反向漏电流I_R | 第13页 |
| ·温度特性测试 | 第13-18页 |
| ·深能级瞬态谱(DLTS) | 第18-21页 |
| 参考文献 | 第21-23页 |
| 第二章 金铂双掺杂快恢复二极管特性研究 | 第23-34页 |
| ·引言 | 第23页 |
| ·金铂双掺杂技术的相关理论 | 第23-26页 |
| ·样品制备 | 第26-27页 |
| ·测试结果及讨论 | 第27-32页 |
| ·结论 | 第32页 |
| 参考文献 | 第32-34页 |
| 第三章 金铂双掺杂二极管与掺金、掺铂二极管特性比较 | 第34-53页 |
| ·引言 | 第34页 |
| ·V_F～T_(RR)兼容性比较 | 第34-38页 |
| ·反向恢复时间温度特性的比较 | 第38-39页 |
| ·反向漏电流的比较 | 第39-42页 |
| ·正向压降温度特性的比较 | 第42-44页 |
| ·T_(RR)～I_R特性的比较 | 第44-47页 |
| ·V_F～I_F特性的比较 | 第47-49页 |
| ·深能级瞬态谱(DLTS)结果 | 第49-51页 |
| ·结论 | 第51页 |
| 参考文献 | 第51-53页 |
| 结论 | 第53页 |
| 致谢 | 第53页 |