| 内容提要 | 第1-5页 |
| 英文摘要 | 第5-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-26页 |
| 1．1 天线近场测量的概念 | 第11-12页 |
| 1．2 近场测量技术与相关学科的联系 | 第12页 |
| 1．3 国外近场测量技术的研究现状 | 第12-21页 |
| 1．3．1 国外近场测量技术理论研究现状 | 第12-21页 |
| 1．3．2 国外近场测量系统的分布 | 第21页 |
| 1．4 国内近场测量技术的发展状况 | 第21-23页 |
| 1．4．1 国内近场测量技术理论研究的现状 | 第22-23页 |
| 1．4．2 国内近场测量系统的分布 | 第23页 |
| 1．5 选题的意义与背景 | 第23-24页 |
| 1．6 本文的主要结果和结构安排 | 第24-26页 |
| 第二章 基础知识 | 第26-46页 |
| 2．1 引言 | 第26页 |
| 2．2 工程数学和高等数学的相关理论 | 第26-32页 |
| 2．2．1 驻相法 | 第26-28页 |
| 2．2．2 抽样定理 | 第28-30页 |
| 2．2．3 矢量的泰勒（Taylor）级数展开式 | 第30-31页 |
| 2．2．4 第一类修正贝塞尔函数（Bessel function） | 第31-32页 |
| 2．3 数据统计与概率论的相关理论 | 第32-34页 |
| 2．3．1 数学期望 | 第32页 |
| 2．3．2 方差与均方差 | 第32-33页 |
| 2．3．3 统计方差和统计均方差 | 第33页 |
| 2．3．4 概率分布函数及其相关性质 | 第33页 |
| 2．3．5 误差理论的相关理论 | 第33-34页 |
| 2．4 综合平面波理论 | 第34-36页 |
| 2．5 平面近场测量的基本理论 | 第36-39页 |
| 2．5．1 基本原理 | 第36-38页 |
| 2．5．2 探头补偿原理 | 第38-39页 |
| 2．6 平面波散射矩阵理论的相关理论 | 第39-43页 |
| 2．6．1 互联波导的散射矩阵方程 | 第39页 |
| 2．6．2 单个天线的散射矩阵 | 第39-41页 |
| 2．6．3 近场耦合系统散射矩阵的分析 | 第41-43页 |
| 2．7 近场测量统一理论的简介 | 第43-46页 |
| 第三章 超低副瓣天线平面近场测量主要误差源的误差上界分析 | 第46-101页 |
| 3．1 引言 | 第46页 |
| 3．2 远场测量误差的定义 | 第46-49页 |
| 3．3 超低副瓣天线方向图副瓣测量的总误差 | 第49-68页 |
| 3．3．1 波谱的概率密度函数 | 第49-64页 |
| 3．3．2 副瓣测量误差与天线相关参数的关系式 | 第64-67页 |
| 3．3．3 结论 | 第67-68页 |
| 3．4 有限扫描面截断误差上界 | 第68-77页 |
| 3．4．1 有限扫描面截断误差所产生的近场误差 | 第68-69页 |
| 3．4．2 有限扫描面截断误差所产生的远场误差 | 第69-71页 |
| 3．4．3 有限扫描面截断误差所产生的远场误差上界 | 第71-77页 |
| 3．5 扫描面位置误差上界 | 第77-85页 |
| 3．5．1 扫描面位置误差引入的近场误差 | 第77-78页 |
| 3．5．2 扫描面位置误差引入的远场误差 | 第78页 |
| 3．5．3 扫描面位置误差引入的远场误差界 | 第78-85页 |
| 3．6 测量仪器非线性误差上界 | 第85-91页 |
| 3．6．1 仪器误差与近场误差和远场误差的关系 | 第86页 |
| 3．6．2 仪器误差所引入的远场误差上界 | 第86-91页 |
| 3．7 多次反射误差产生的远场误差上界 | 第91-98页 |
| 3．7．1 多次反射产生的近场误差 | 第91页 |
| 3．7．2 多次反射产生的远场误差上界 | 第91-98页 |
| 3．8 暗室特性误差所产生的远场误差 | 第98-101页 |
| 3．8．1 暗室散射场产生的近场误差 | 第98页 |
| 3．8．2 暗室散射场产生的远场误差上界 | 第98-101页 |
| 第四章 平面近场主要误差对超低副瓣天线方向图影响的仿真 | 第101-120页 |
| 4．1 引言 | 第101页 |
| 4．2 仿真数学模型的建立 | 第101-107页 |
| 4．2．1 偶极子阵的近场横向分量的表达式 | 第102-103页 |
| 4．2．2 偶极子阵的理论远场方向图 | 第103-105页 |
| 4．2．3 由近远场变换所确定的偶极子阵远场方向图 | 第105-107页 |
| 4．3 近场幅相测量误差的仿真 | 第107-111页 |
| 4．3．1 近场幅相误差仿真的数学模型 | 第108页 |
| 4．3．2 近场幅相误差的仿真方法 | 第108页 |
| 4．3．3 近场幅相误差的仿真条件 | 第108-109页 |
| 4．3．4 近场幅相误差的仿真结果及结论 | 第109-111页 |
| 4．4 有限扫描面截断误差的仿真 | 第111-112页 |
| 4．4．1 有限扫描面截断误差的仿真方法 | 第111-112页 |
| 4．4．2 有限扫描面截断误差的仿真条件 | 第112页 |
| 4．4．3 有限扫描面截断误差的仿真结果 | 第112页 |
| 4．4．4 有限扫描面截断误差的仿真结论 | 第112页 |
| 4．5 扫描面位置误差的仿真 | 第112-118页 |
| 4．5．1 扫描面位置误差仿真的数学模型 | 第112-116页 |
| 4．5．2 扫描面位置误差的仿真方法 | 第116页 |
| 4．5．3 扫描面位置误差的仿真条件 | 第116页 |
| 4．5．4 扫描面位置误差的仿真结论 | 第116-118页 |
| 4．6 仪器随机误差的仿真 | 第118-120页 |
| 第五章 超低副瓣天线平面近场测量主要误差补偿方法及仿真 | 第120-139页 |
| 5．1 引言 | 第120页 |
| 5．2 幅相测量误差补偿方法的仿真 | 第120-124页 |
| 5．3 有限扫描面截断误差修正方法及仿真 | 第124-127页 |
| 5．3．1 有限扫描面截断误差修正的基本思想 | 第124-125页 |
| 5．3．2 有限扫描面截断误差修正的实现方法 | 第125-126页 |
| 5．3．3 有限扫描面截断误差修正方法的计算机仿真 | 第126-127页 |
| 5．4 扫描面位置误差的补偿方法与仿真 | 第127-137页 |
| 5．4．1 扫描面位置误差补偿的基本思想 | 第127-129页 |
| 5．4．2 扫描面位置误差补偿的方法 | 第129-135页 |
| 5．4．3 扫描面位置误差补偿方法的仿真 | 第135-137页 |
| 5．5 仪器随机误差补偿方法 | 第137-139页 |
| 第六章 减小环境误差及多次反射误差的方法 | 第139-148页 |
| 6．1 引言 | 第139页 |
| 6．2 散射体作“探头”待测天线的远场方向图 | 第139-143页 |
| 6．3 有效减小多次反射误差及环境散射误差的方法 | 第143-148页 |
| 6．3．1 “自校准”法的基本思想 | 第143-144页 |
| 6．3．2 “自校准”法的基本原理 | 第144-145页 |
| 6．3．3 工程问题的解决方法 | 第145-146页 |
| 6．3．4 “自校准”法的实验结果 | 第146-148页 |
| 结束语 | 第148-149页 |
| 参考文献 | 第149-157页 |
| 致谢 | 第157-159页 |
| 在读期间的研究成果 | 第159-160页 |
