| 中文摘要 | 第1-10页 |
| Abstract | 第10-12页 |
| 第一章 综述 | 第12-29页 |
| ·前言 | 第12页 |
| ·ICP-AES的发展历程 | 第12-13页 |
| ·ICP的形成 | 第13-15页 |
| ·ICP-AES分析仪器的发展 | 第15-17页 |
| ·在光源方面的进步 | 第15-16页 |
| ·在检测器方面的发展 | 第16页 |
| ·ICP-AES向全谱直读仪器发展 | 第16-17页 |
| ·ICP-AES的分析性能特点 | 第17-20页 |
| ·ICP-AES在冶金分析上的应用 | 第20-24页 |
| ·常规分析 | 第21页 |
| ·钢铁合金中痕量分析 | 第21-22页 |
| ·稀土元素分析 | 第22页 |
| ·冶金分析中ICP法的干扰标准 | 第22-24页 |
| ·ICP-AES法的发展趋势 | 第24-25页 |
| 参考文献 | 第25-29页 |
| 第二章 电感耦合等离子体发射光谱法测定锇粉中的杂质元素 | 第29-40页 |
| ·前言 | 第29-30页 |
| ·实验部分 | 第30-34页 |
| ·试剂 | 第30-33页 |
| ·仪器 | 第33页 |
| ·试样溶解 | 第33-34页 |
| ·镍、镁、铜、铁、银、铝工作曲线的绘制 | 第33-34页 |
| ·金、铂、钯、铑、铱工作曲线的绘制 | 第34页 |
| ·硅工作曲线的绘制 | 第34页 |
| ·试液的测定 | 第34页 |
| ·结果与讨论 | 第34-38页 |
| ·酸的影响 | 第34-35页 |
| ·仪器的测量条件 | 第35页 |
| ·分析线的选择 | 第35页 |
| ·样品处理温度影响 | 第35页 |
| ·方法的检测限 | 第35-36页 |
| ·加标回收率 | 第36-37页 |
| ·精密度 | 第37-38页 |
| ·结论 | 第38-39页 |
| 参考文献 | 第39-40页 |
| 第三章 ICP-AES对贵金属固体物料中金、钯、铂、铑、铱、镍、铜、铁测定方法研究 | 第40-52页 |
| ·前言 | 第40页 |
| ·实验部分 | 第40-42页 |
| ·仪器 | 第40页 |
| ·试剂 | 第40-42页 |
| ·试验方法 | 第42-43页 |
| ·试验步骤 | 第42页 |
| ·工作曲线的绘制 | 第42-43页 |
| ·结果讨论 | 第43-45页 |
| ·仪器工作条件 | 第43页 |
| ·溶样条件选择 | 第43-44页 |
| ·仪器最佳分析条件选择 | 第44-45页 |
| ·谱线条件选择 | 第44页 |
| ·高频发生器(RE)功率的选择 | 第44-45页 |
| ·辅助气流量的选择 | 第45页 |
| ·垂直观测高度选择 | 第45页 |
| ·泵速的选择 | 第45页 |
| ·共存元素干扰 | 第45页 |
| ·方法的检出限及测定下限 | 第45-46页 |
| ·精密度试验 | 第46-47页 |
| ·加标回收试验 | 第47-50页 |
| ·方法对照实验 | 第50页 |
| ·结论 | 第50-52页 |
| 第四章 金基物料中杂质元素测定方法研究 | 第52-61页 |
| ·前言 | 第52页 |
| ·试验部分 | 第52-54页 |
| ·仪器与试剂 | 第52-53页 |
| ·试验方法 | 第53-54页 |
| ·固体样品处理 | 第53-54页 |
| ·液体样品处理 | 第54页 |
| ·工作曲线的绘制 | 第54页 |
| ·仪器工作条件 | 第54页 |
| ·结果讨论 | 第54-60页 |
| ·样品处理条件选择 | 第54-55页 |
| ·样品溶解性试验 | 第54页 |
| ·样品稳定性试验 | 第54-55页 |
| ·仪器最佳分析条件选择 | 第55-56页 |
| ·谱线条件选择 | 第55页 |
| ·高频发生器(RE)功率的选择 | 第55-56页 |
| ·辅助气流量的选择 | 第56页 |
| ·垂直观测高度选择 | 第56页 |
| ·泵速的选择 | 第56页 |
| ·共存元素干扰 | 第56-57页 |
| ·方法的检出限及测定下限 | 第57-58页 |
| ·精密度试验 | 第58-59页 |
| ·加标回收试验 | 第59-60页 |
| ·结论 | 第60-61页 |
| 致谢 | 第61-62页 |
| 自我简介 | 第62页 |