基于全反射X射线荧光技术的武汉市大气颗粒物有害元素浓度分析

中文摘要	第1-7页
英文摘要	第7-10页
第一章 引言	第10-18页
·大气颗粒污染物监控	第10-11页
·大气颗粒污染物分析技术综述	第11-13页
·全反射 X 射线荧光技术国内外研究状况	第13-16页
·武汉市大气环境监测技术现状	第16-17页
·本文的主要研究内容	第17-18页
第二章 全反射X射线荧光分析技术与分析仪结构	第18-66页
·X射线、特征X射线与X射线荧光	第18-24页
·全反射 X 荧光分析原理与特点	第24-33页
·全反射X 射线荧光分析仪结构组成	第33-62页
·定量分析	第62-66页
第三章 采样与样品制备	第66-84页
·研究区域概况	第66-71页
·采样地点和方法	第71-77页
·采样装置与原理	第77-81页
·样品制备	第81-84页
第四章 样品全反射X 射线荧光分析与数据处理	第84-102页
·概览	第84-85页
·分析装置与原理	第85-87页
·分析方法与过程	第87-92页
·数据处理	第92-94页
·误差分析与测量准确性	第94-102页
第五章 大气污染元素浓度格局与源解析	第102-115页
·大气污染元素浓度	第102-103页
·污染浓度分布格局	第103-109页
·源解析	第109-115页
第六章 结论	第115-117页
·结论	第115-116页
·需要进一步研究的问题	第116-117页
参考文献	第117-125页
成果目录	第125-127页
致谢	第127页