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高速宽带光收发模块可靠性分析技术

摘要第5-6页
Abstract第6页
第一章 绪论第10-20页
    1.1 课题研究背景与意义第10-11页
    1.2 高速光收发模块第11-16页
        1.2.1 光模块发展趋势第11-12页
        1.2.2 光收发模块结构第12-15页
        1.2.3 光收发模块基本性能参数第15-16页
    1.3 光子器件可靠性研究现状第16-17页
    1.4 本文主要工作第17-20页
第二章 高速宽带光收发模块可靠性分析基础理论第20-34页
    2.1 可靠性的基本概念第20-22页
        2.1.1 可靠性和可靠性工程的内涵第20页
        2.1.2 可靠性常用术语和主要特征量第20-22页
    2.2 电子器件可靠性试验与评估方法第22-29页
        2.2.1 电子器件可靠性试验方法第22-25页
        2.2.2 电子器件可靠性评估方法第25-29页
    2.3 光电子器件常见失效模式和失效机理第29-31页
        2.3.1 LED的常见失效模式和失效机理第29-30页
        2.3.2 半导体激光器的常见失效模模式和失效机理第30-31页
        2.3.3 光模块的常见失效模式和失效机理第31页
    2.4 高速宽带光收发模块相关标准第31-33页
        2.4.1 可靠性相关标准第31-32页
        2.4.2 10G相关标准第32页
        2.4.3 100G光模块相关标准第32-33页
    2.5 本章小结第33-34页
第三章 高速宽带光收发模块可靠性分析方法研究第34-52页
    3.1 基于可靠性框图法的100GCFP4光收发模块可靠性估计第34-42页
        3.1.1 100GCFP4光收发模块可靠性框图第34-40页
        3.1.2 光模块组件失效率估计第40-41页
        3.1.3 光收发模块可靠性参数估计及影响因素分析第41-42页
    3.2 热应力对半导体激光器和接收器工作特性影响的研究第42-48页
        3.2.1 半导体激光器输出功率与温度的关系第42-44页
        3.2.2 半导体激光器中心波长与温度的关系第44-45页
        3.2.3 热应力对接收器性能的影响第45-48页
    3.3 光收发模块加速寿命试验分析方法研究第48-50页
    3.4 本章小结第50-52页
第四章 光模块可靠性试验与分析第52-78页
    4.1 半导体激光器加速寿命试验与结果分析第52-66页
        4.1.1 半导体激光器驱动电路设计第52-55页
        4.1.2 半导体激光器工作特性稳定性试验研究第55-58页
        4.1.3 激光器加速寿命试验方案设计第58-59页
        4.1.4 激光器加速寿命试验结果与分析第59-66页
    4.2 高速光模块加速寿命试验与结果分析第66-76页
        4.2.1 高速光模块加速寿命试验方案设计第66-67页
        4.2.2 SFP+光模块接口电路第67-69页
        4.2.3 高速光模块试验系统搭建第69-70页
        4.2.4 高速光模块加速寿命试验结果与分析第70-76页
    4.3 本章小结第76-78页
第五章 总结与展望第78-80页
致谢第80-82页
参考文献第82-86页
作者简介第86页

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