摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6页 |
第一章 绪论 | 第10-20页 |
1.1 课题研究背景与意义 | 第10-11页 |
1.2 高速光收发模块 | 第11-16页 |
1.2.1 光模块发展趋势 | 第11-12页 |
1.2.2 光收发模块结构 | 第12-15页 |
1.2.3 光收发模块基本性能参数 | 第15-16页 |
1.3 光子器件可靠性研究现状 | 第16-17页 |
1.4 本文主要工作 | 第17-20页 |
第二章 高速宽带光收发模块可靠性分析基础理论 | 第20-34页 |
2.1 可靠性的基本概念 | 第20-22页 |
2.1.1 可靠性和可靠性工程的内涵 | 第20页 |
2.1.2 可靠性常用术语和主要特征量 | 第20-22页 |
2.2 电子器件可靠性试验与评估方法 | 第22-29页 |
2.2.1 电子器件可靠性试验方法 | 第22-25页 |
2.2.2 电子器件可靠性评估方法 | 第25-29页 |
2.3 光电子器件常见失效模式和失效机理 | 第29-31页 |
2.3.1 LED的常见失效模式和失效机理 | 第29-30页 |
2.3.2 半导体激光器的常见失效模模式和失效机理 | 第30-31页 |
2.3.3 光模块的常见失效模式和失效机理 | 第31页 |
2.4 高速宽带光收发模块相关标准 | 第31-33页 |
2.4.1 可靠性相关标准 | 第31-32页 |
2.4.2 10G相关标准 | 第32页 |
2.4.3 100G光模块相关标准 | 第32-33页 |
2.5 本章小结 | 第33-34页 |
第三章 高速宽带光收发模块可靠性分析方法研究 | 第34-52页 |
3.1 基于可靠性框图法的100GCFP4光收发模块可靠性估计 | 第34-42页 |
3.1.1 100GCFP4光收发模块可靠性框图 | 第34-40页 |
3.1.2 光模块组件失效率估计 | 第40-41页 |
3.1.3 光收发模块可靠性参数估计及影响因素分析 | 第41-42页 |
3.2 热应力对半导体激光器和接收器工作特性影响的研究 | 第42-48页 |
3.2.1 半导体激光器输出功率与温度的关系 | 第42-44页 |
3.2.2 半导体激光器中心波长与温度的关系 | 第44-45页 |
3.2.3 热应力对接收器性能的影响 | 第45-48页 |
3.3 光收发模块加速寿命试验分析方法研究 | 第48-50页 |
3.4 本章小结 | 第50-52页 |
第四章 光模块可靠性试验与分析 | 第52-78页 |
4.1 半导体激光器加速寿命试验与结果分析 | 第52-66页 |
4.1.1 半导体激光器驱动电路设计 | 第52-55页 |
4.1.2 半导体激光器工作特性稳定性试验研究 | 第55-58页 |
4.1.3 激光器加速寿命试验方案设计 | 第58-59页 |
4.1.4 激光器加速寿命试验结果与分析 | 第59-66页 |
4.2 高速光模块加速寿命试验与结果分析 | 第66-76页 |
4.2.1 高速光模块加速寿命试验方案设计 | 第66-67页 |
4.2.2 SFP+光模块接口电路 | 第67-69页 |
4.2.3 高速光模块试验系统搭建 | 第69-70页 |
4.2.4 高速光模块加速寿命试验结果与分析 | 第70-76页 |
4.3 本章小结 | 第76-78页 |
第五章 总结与展望 | 第78-80页 |
致谢 | 第80-82页 |
参考文献 | 第82-86页 |
作者简介 | 第86页 |