| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 第1章 绪论 | 第10-16页 |
| 1.1 选题背景和意义 | 第10页 |
| 1.2 国内外中子探测研究发展 | 第10-14页 |
| 1.3 中子探测器的选择 | 第14-15页 |
| 1.4 本文研究目的与主要内容 | 第15-16页 |
| 第2章 含硼塑料闪烁体探测原理 | 第16-36页 |
| 2.1 含硼塑料闪烁体 | 第16-17页 |
| 2.2 含硼塑料闪烁体探测原理 | 第17-21页 |
| 2.2.1 中子探测原理 | 第17-19页 |
| 2.2.2 γ射线与含硼塑料闪烁体的相互作用 | 第19-21页 |
| 2.3 含硼塑料闪烁体荧光理论 | 第21-25页 |
| 2.3.1 有机闪烁体荧光强度理论 | 第21-23页 |
| 2.3.2 重带电粒子能量损失率计算 | 第23-25页 |
| 2.4 质子和α粒子的荧光强度计算 | 第25-27页 |
| 2.5 其他带电粒子的荧光强度计算 | 第27-36页 |
| 2.5.1 次级电子能量沉积模型 | 第28-29页 |
| 2.5.2 M-M荧光模型 | 第29-30页 |
| 2.5.3 M-M摸型的实际应用 | 第30-36页 |
| 第3章 蒙特卡罗方法理论基础 | 第36-39页 |
| 3.1 蒙特卡罗方法简介 | 第36-37页 |
| 3.1.1 蒙特卡洛方法的基本思想 | 第36页 |
| 3.1.2 蒙特卡罗方法的特点 | 第36-37页 |
| 3.2 GEANT4程序简介 | 第37-39页 |
| 3.2.1 Geant4程序概要 | 第37页 |
| 3.2.2 Geant4程序的主要特点 | 第37页 |
| 3.2.3 使用Geant4程序模拟计算 | 第37-39页 |
| 第4章 含硼塑料闪烁体的探测性能计算 | 第39-52页 |
| 4.1 计算几何模型 | 第39页 |
| 4.2 计算方法 | 第39-40页 |
| 4.3 含硼塑料闪烁体探测效率模拟计算 | 第40-44页 |
| 4.3.1 长度的改变对含硼塑料闪烁体的影响 | 第40-42页 |
| 4.3.2 直径的改变对含硼塑料闪烁体的影响 | 第42-44页 |
| 4.4 添加慢化体的含硼塑料闪烁体探测效率模拟计算 | 第44-52页 |
| 4.4.1 计算模型 | 第44-45页 |
| 4.4.2 侧面添加慢化体对含硼塑料闪烁体的影响 | 第45-47页 |
| 4.4.3 前端添加慢化体对含硼塑料闪烁体的影响 | 第47-49页 |
| 4.4.4 侧面和前端同时添加慢化体对含硼塑料闪烁体的影响 | 第49-52页 |
| 第5章 实验测试 | 第52-60页 |
| 5.1 实验装置 | 第52-53页 |
| 5.2 实验调试 | 第53-54页 |
| 5.3 测试数据 | 第54-59页 |
| 5.4 结论 | 第59-60页 |
| 第6章 总结和展望 | 第60-62页 |
| 参考文献 | 第62-66页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及其它成果 | 第66-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
| 附录 | 第68-76页 |