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USB3.0信号完整性仿真设计和测试

摘要第8-9页
ABSTRACT第9-10页
符号说明第11-12页
第1章 绪论第12-16页
    1.1 系统背景第12-13页
    1.2 USB3.0研究现状第13-14页
    1.3 研究主要内容第14-15页
    1.4 本文组织结构第15-16页
第2章 USB概述第16-25页
    2.1 USB总线特点第16-20页
        2.1.1 USB总线及其物理结构第16-18页
        2.1.2 USB总线信号特征及其电气特性第18-20页
    2.2 USB3.0简介第20-23页
        2.2.1 USB3.0概念第20-21页
        2.2.2 USB3.0与USB2.0的比较第21-23页
    2.3 USB3.0架构第23-25页
第3章 信号完整性及其分析方法第25-38页
    3.1 信号完整性概念第25-29页
        3.1.1 信号完整性第25-26页
        3.1.2 高速信号第26页
        3.1.3 传输线理论第26页
        3.1.4 阻抗匹配第26-27页
        3.1.5 差分第27-28页
        3.1.6 串扰第28页
        3.1.7 反射第28页
        3.1.8 电磁干扰(EMI)第28-29页
        3.1.9 静电泄放ESD第29页
    3.2 信号完整性设计方法第29-34页
        3.2.1 阻抗匹配第30-31页
        3.2.2 端接方案第31-34页
    3.3 S参数公式图第34-35页
    3.4 频域和时域的分析方法第35-38页
        3.4.1 频域第35-36页
        3.4.2 时域第36-37页
        3.4.3 时域频域的关系第37-38页
第4章 USB3.0仿真设计第38-51页
    4.1 电路设计第38-40页
    4.2 PCB设计第40-44页
        4.2.1 阻抗设计第40-43页
        4.2.2 PCB布局第43-44页
    4.3 USB仿真分析第44-51页
        4.3.1 频域仿真第44-46页
        4.3.2 时域仿真第46-51页
第5章 USB3.0测试分析第51-54页
    5.1 测试设备信息第51-52页
    5.2 测试过程第52页
    5.3 测试结果第52-54页
第6章 总结与展望第54-55页
参考文献第55-58页
致谢第58-59页
附件第59页

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