USB3.0信号完整性仿真设计和测试
| 摘要 | 第8-9页 |
| ABSTRACT | 第9-10页 |
| 符号说明 | 第11-12页 |
| 第1章 绪论 | 第12-16页 |
| 1.1 系统背景 | 第12-13页 |
| 1.2 USB3.0研究现状 | 第13-14页 |
| 1.3 研究主要内容 | 第14-15页 |
| 1.4 本文组织结构 | 第15-16页 |
| 第2章 USB概述 | 第16-25页 |
| 2.1 USB总线特点 | 第16-20页 |
| 2.1.1 USB总线及其物理结构 | 第16-18页 |
| 2.1.2 USB总线信号特征及其电气特性 | 第18-20页 |
| 2.2 USB3.0简介 | 第20-23页 |
| 2.2.1 USB3.0概念 | 第20-21页 |
| 2.2.2 USB3.0与USB2.0的比较 | 第21-23页 |
| 2.3 USB3.0架构 | 第23-25页 |
| 第3章 信号完整性及其分析方法 | 第25-38页 |
| 3.1 信号完整性概念 | 第25-29页 |
| 3.1.1 信号完整性 | 第25-26页 |
| 3.1.2 高速信号 | 第26页 |
| 3.1.3 传输线理论 | 第26页 |
| 3.1.4 阻抗匹配 | 第26-27页 |
| 3.1.5 差分 | 第27-28页 |
| 3.1.6 串扰 | 第28页 |
| 3.1.7 反射 | 第28页 |
| 3.1.8 电磁干扰(EMI) | 第28-29页 |
| 3.1.9 静电泄放ESD | 第29页 |
| 3.2 信号完整性设计方法 | 第29-34页 |
| 3.2.1 阻抗匹配 | 第30-31页 |
| 3.2.2 端接方案 | 第31-34页 |
| 3.3 S参数公式图 | 第34-35页 |
| 3.4 频域和时域的分析方法 | 第35-38页 |
| 3.4.1 频域 | 第35-36页 |
| 3.4.2 时域 | 第36-37页 |
| 3.4.3 时域频域的关系 | 第37-38页 |
| 第4章 USB3.0仿真设计 | 第38-51页 |
| 4.1 电路设计 | 第38-40页 |
| 4.2 PCB设计 | 第40-44页 |
| 4.2.1 阻抗设计 | 第40-43页 |
| 4.2.2 PCB布局 | 第43-44页 |
| 4.3 USB仿真分析 | 第44-51页 |
| 4.3.1 频域仿真 | 第44-46页 |
| 4.3.2 时域仿真 | 第46-51页 |
| 第5章 USB3.0测试分析 | 第51-54页 |
| 5.1 测试设备信息 | 第51-52页 |
| 5.2 测试过程 | 第52页 |
| 5.3 测试结果 | 第52-54页 |
| 第6章 总结与展望 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-58页 |
| 致谢 | 第58-59页 |
| 附件 | 第59页 |
