一种熔断器分段能力测试系统的研究
| 摘要 | 第3-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第10-16页 |
| 1.1 引言 | 第10页 |
| 1.2 熔断器测试标准 | 第10-11页 |
| 1.3 本文研究的目的与意义 | 第11页 |
| 1.4 本课题主要研究的内容 | 第11-16页 |
| 1.4.1 主电路设计 | 第12-13页 |
| 1.4.2 恒流电源控制电路的设计 | 第13-14页 |
| 1.4.3 主回路串联电阻的设计 | 第14-15页 |
| 1.4.4 主控软件的编写 | 第15-16页 |
| 第二章 小型熔断器简介 | 第16-21页 |
| 2.1 常用的熔断器 | 第16-20页 |
| 2.2 熔断器的主要参数 | 第20-21页 |
| 第三章 基于可控硅的合成电路的总体设计 | 第21-37页 |
| 3.1 可控硅简介 | 第21页 |
| 3.2 单向可控硅 | 第21-23页 |
| 3.3 双向可控硅 | 第23-30页 |
| 3.3.1 四种触发方式: | 第26-27页 |
| 3.3.2 双向可控硅的选择: | 第27-28页 |
| 3.3.3 双向可控硅使用的注意事项 | 第28-29页 |
| 3.3.4 保护措施 | 第29-30页 |
| 3.4 合成电路原理及工作过程 | 第30-31页 |
| 3.5 触发电路设计 | 第31-33页 |
| 3.5.1 过零比较电路 | 第31-32页 |
| 3.5.2 可控硅触发电路 | 第32-33页 |
| 3.6 供电电源电路 | 第33-34页 |
| 3.7 结构设计 | 第34-35页 |
| 3.8 回路主变压器与回路电阻 | 第35页 |
| 3.9 本章小结 | 第35-37页 |
| 第四章 恒流源电路 | 第37-42页 |
| 4.1 恒流源电路介绍 | 第37-40页 |
| 4.1.1 恒流源的分类 | 第38-39页 |
| 4.1.2 恒流源参数 | 第39-40页 |
| 4.2 选用的恒流源电路 | 第40-42页 |
| 第五章 测试控制电路与软件 | 第42-55页 |
| 5.1 编译环境Keil μVison4简介 | 第42-43页 |
| 5.2 程序主流程图 | 第43-45页 |
| 5.3 数据存储 | 第45-50页 |
| 5.3.1 可控硅触发电路 | 第45页 |
| 5.3.2 模拟ⅡC介绍 | 第45-50页 |
| 5.4 MCU控制电路 | 第50-52页 |
| 5.4.1 模拟ⅡC介绍 | 第50-51页 |
| 5.4.2 按键电路 | 第51-52页 |
| 5.5 电路测试 | 第52-55页 |
| 第六章 总结与展望 | 第55-56页 |
| 6.1 工作总结 | 第55页 |
| 6.2 工作展望与未来的构思 | 第55-56页 |
| 参考文献 | 第56-58页 |
| 致谢 | 第58-59页 |
| 附录 | 第59-81页 |
| 攻读学位期间参加的科研项目和成果 | 第81页 |
