| 摘要 | 第3-4页 |
| ABSTRACT | 第4-5页 |
| 1 绪论 | 第8-16页 |
| 1.1 论文研究的背景和意义 | 第8-10页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第10-15页 |
| 1.2.1 紫外成像技术检测电气设备放电特性的研究应用 | 第10-13页 |
| 1.2.2 紫外成像放电检测的影响因素 | 第13-15页 |
| 1.2.3 紫外成像技术的发展趋势 | 第15页 |
| 1.3 本文的主要研究内容 | 第15页 |
| 1.4 本章小结 | 第15-16页 |
| 2 绝缘子放电紫外检测试验装置、试品和方法 | 第16-26页 |
| 2.1 绝缘子放电紫外检测试验装置 | 第16-19页 |
| 2.1.1 多功能人工气候室 | 第16页 |
| 2.1.2 试验电源 | 第16-17页 |
| 2.1.3 测量装置 | 第17-19页 |
| 2.2 试品 | 第19页 |
| 2.3 试验方法 | 第19-24页 |
| 2.3.1 数据处理方法 | 第19-20页 |
| 2.3.2 测量仪器对绝缘子放电紫外成像影响试验 | 第20页 |
| 2.3.3 增益对绝缘子放电紫外成像影响试验 | 第20页 |
| 2.3.4 检测距离对绝缘子放电紫外成像影响试验 | 第20-21页 |
| 2.3.5 检测视角对绝缘子放电紫外成像影响试验 | 第21页 |
| 2.3.6 淋雨环境下绝缘子放电紫外检测试验 | 第21-22页 |
| 2.3.7 污秽绝缘子放电紫外检测试验 | 第22-23页 |
| 2.3.8 覆冰条件下绝缘子放电检测试验 | 第23-24页 |
| 2.4 本章小结 | 第24-26页 |
| 3 非设备故障缺陷因素对紫外放电测试的影响分析 | 第26-40页 |
| 3.1 测量仪器对绝缘子放电紫外成像影响试验结果与分析 | 第26-29页 |
| 3.2 增益对绝缘子放电紫外成像影响试验结果与分析 | 第29-36页 |
| 3.2.1 DayCor Superb 型仪器光子数与增益关系 | 第29-31页 |
| 3.2.2 CoroCAM 6D 型仪器光子数与增益关系 | 第31-33页 |
| 3.2.3 CoroCAM IV+型仪器光子数与增益关系 | 第33-35页 |
| 3.2.4 最佳增益的选择 | 第35-36页 |
| 3.3 检测距离对绝缘子放电紫外成像影响试验结果与分析 | 第36-38页 |
| 3.4 检测视角对绝缘子放电紫外成像影响试验结果与分析 | 第38页 |
| 3.5 本章小结 | 第38-40页 |
| 4 复杂外绝缘环境下绝缘子放电紫外检测分析 | 第40-58页 |
| 4.1 绝缘子淋雨环境下放电紫外检测特点分析 | 第40-46页 |
| 4.1.1 双串 XP-70 绝缘子放电紫外检测分析 | 第40-42页 |
| 4.1.2 FXBW-35/70 复合绝缘子放电紫外检测分析 | 第42-43页 |
| 4.1.3 支柱绝缘子放电紫外检测分析 | 第43-45页 |
| 4.1.4 淋雨量对绝缘子放电检测的影响分析 | 第45-46页 |
| 4.2 染污绝缘子放电紫外检测特点分析 | 第46-51页 |
| 4.2.1 污秽度对绝缘子放电检测的影响分析 | 第46-49页 |
| 4.2.2 湿度对染污绝缘子放电检测的影响 | 第49-51页 |
| 4.3 绝缘子覆冰环境下放电紫外检测特点分析 | 第51-54页 |
| 4.3.1 覆冰绝缘子的放电过程 | 第51-53页 |
| 4.3.2 覆冰量对绝缘子放电的影响 | 第53-54页 |
| 4.4 绝缘子放电阶段的划分 | 第54-56页 |
| 4.5 本章小结 | 第56-58页 |
| 5 表征绝缘子放电强度的新特征参量及应用分析 | 第58-66页 |
| 5.1 引言 | 第58页 |
| 5.2 紫外检测新特征量提取和分析 | 第58-62页 |
| 5.3 光斑面积特征量的应用分析 | 第62-65页 |
| 5.4 本章小结 | 第65-66页 |
| 6 结论与展望 | 第66-68页 |
| 致谢 | 第68-70页 |
| 参考文献 | 第70-74页 |
| 附录 | 第74页 |
| A. 作者在攻读学位期间发表的论文目录 | 第74页 |
| B. 作者在攻读硕士学位期间参与的科研项目目录 | 第74页 |
