低压ZnO压敏电阻器的性能与工艺研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-5页 |
| 目录 | 第5-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-13页 |
| §1.1 ZnO压敏电阻的工作特性 | 第7-9页 |
| §1.2 低压氧化锌压敏元件的用途 | 第9页 |
| §1.3 压敏元件的现况 | 第9-11页 |
| §1.4 低压元件存在的问题与相关工艺 | 第11-13页 |
| 第二章 理论部分 | 第13-37页 |
| §2.1 ZnO压敏元件的微观结构 | 第13-15页 |
| §2.2 Zn0压敏电阻器的性能参数 | 第15-17页 |
| ·压敏电压U1mA | 第15-16页 |
| ·漏电流IL | 第16页 |
| ·通流值 | 第16页 |
| ·限制电压比 | 第16-17页 |
| ·能量耐量 | 第17页 |
| §2.3 ZnO压敏电阻器压敏特性的研究 | 第17-19页 |
| §2.4 ZnO压敏电阻器主材料研究 | 第19-23页 |
| ·ZnO | 第19-21页 |
| ·Bi_2O_3 | 第21-22页 |
| ·Bi_2O_3与ZnO的相图分析 | 第22-23页 |
| §2.5 杂质的固溶问题 | 第23-29页 |
| §2.6 烧结过程研究 | 第29-32页 |
| §2.7 烧结模型 | 第32-34页 |
| §2.8 粉体粒度的问题 | 第34-35页 |
| §2.9 应力与漏电流分析 | 第35-37页 |
| 第三章 制备工艺及其实验结果 | 第37-47页 |
| §3.1 化学共沉淀法与元件性能测试 | 第37-40页 |
| ·化学共沉淀法制备超细粉体 | 第37-39页 |
| ·粉体的检测 | 第39-40页 |
| ·元件性能测试 | 第40页 |
| §3.2 氧化锌籽晶制备工艺以及性能 | 第40-42页 |
| ·氧化锌籽晶促进形核的原理 | 第40页 |
| ·氧化锌籽晶制备工艺 | 第40-42页 |
| ·直接籽晶法的使用局限性 | 第42页 |
| §3.3 Ti0_2溶胶制备工艺以及性能 | 第42-44页 |
| ·制备工艺 | 第43页 |
| ·TiO_2溶胶粒度与分散性的测试 | 第43页 |
| ·加入TiO_2溶胶的压敏元件性能测试 | 第43-44页 |
| §3.4 混合法制备低压氧化锌压敏元件 | 第44页 |
| §3.5 烧结与热处理工艺的改进 | 第44-45页 |
| §3.6 配方改进 | 第45-47页 |
| 第四章 结论 | 第47-49页 |
| 致谢 | 第49-51页 |
| 参考文献 | 第51-55页 |
| 研究成果 | 第55-57页 |
| 硕士研究生期间取得的成果 | 第55-57页 |
| 附录Ⅰ | 第57-59页 |
| 附录Ⅱ | 第59-61页 |
| 附录Ⅲ | 第61-62页 |
