| 中文摘要 | 第4-5页 |
| 英文摘要 | 第5页 |
| 1 绪论 | 第9-16页 |
| 1．1 颗粒粒径测量的意义 | 第9页 |
| 1．2 颗粒粒径测试技术的发展现状 | 第9-13页 |
| 1．3 课题的提出及主要研究内容 | 第13-14页 |
| 1．4 小结 | 第14-16页 |
| 2 雾粒粒径测量的理论基础 | 第16-36页 |
| 2．1 米氏理论基础 | 第16-18页 |
| 2．1．1 米氏理论简介 | 第16-18页 |
| 2．1．2 Mie理论中有关物理量的数值计算流程图 | 第18页 |
| 2．2 激光衍射粒径测量原理 | 第18-27页 |
| 2．2．1 衍射法测量颗粒粒径原理 | 第18-22页 |
| 2．2．2 衍射法测量颗粒粒径的数据反演 | 第22-25页 |
| 2．2．3 衍射法颗粒粒径测量的适用条件 | 第25-26页 |
| 2．2．4 衍射法颗粒粒径测量下限的扩展 | 第26-27页 |
| 2．3 接收透镜的典型应用光路 | 第27-33页 |
| 2．3．1 物平面紧靠透镜前表面 | 第27-29页 |
| 2．3．2 物平面位于透镜前方 | 第29-31页 |
| 2．3．3 物平面位于透镜后方 | 第31-33页 |
| 2．4 雾粒粒径测量仪采用的光路 | 第33-34页 |
| 2．5 小结 | 第34-36页 |
| 3 雾粒粒径测量仪的设计 | 第36-60页 |
| 3．1 雾粒粒径测量仪探测器的设计 | 第36-56页 |
| 3．1．1 光学元器件的设计和选用 | 第36-47页 |
| 3．1．2 探测器的电路设计 | 第47-54页 |
| 3．1．3 其它 | 第54-56页 |
| 3．2 转接头的设计 | 第56-57页 |
| 3．2．1 ADC电路 | 第56-57页 |
| 3．2．2 RS232/485协议转换电路 | 第57页 |
| 3．3 PC机软件系统设计 | 第57-59页 |
| 3．4 小结 | 第59-60页 |
| 4 工业现场测试 | 第60-63页 |
| 结束语 | 第63-65页 |
| 致谢 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-68页 |
| 附录A 米氏散射的数值计算流程图 | 第68-69页 |
| 附录B 其它型号的半导体激光器参数 | 第69页 |
| 附录C 探测器电路图 | 第69-70页 |
| 附录D A/D转换模块流程图 | 第70-71页 |
| 附录E 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第71页 |