XRF分析铜合金主元素含量的方法技术研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第1章 引言 | 第9-18页 |
| ·铜及铜合金的分类与标准化 | 第9-10页 |
| ·铜合金的分析方法 | 第10-12页 |
| ·XRF 分析与其它分析方法的比较 | 第10-12页 |
| ·国内外研究现状 | 第12-16页 |
| ·铜合金分析的研究发展和现状 | 第12-13页 |
| ·X 荧光分析技术发展和现状 | 第13-16页 |
| ·EDXRF 在有色金属分析中应用 | 第16页 |
| ·研究内容 | 第16-17页 |
| ·本章小结 | 第17-18页 |
| 第2章 理论基础 | 第18-30页 |
| ·X 射线荧光定性分析的物理基础 | 第18页 |
| ·X 射线荧光定量分析的基本方程 | 第18-20页 |
| ·铜合金样品特征X 射线荧光强度的计算模型 | 第20-26页 |
| ·原级荧光强度的计算 | 第20-22页 |
| ·次级荧光强度的计算 | 第22-24页 |
| ·二元样品中元素含量与荧光计数率之间的关系 | 第24-26页 |
| ·小波分析基础 | 第26-29页 |
| ·傅里叶变换到小波变换 | 第26-27页 |
| ·多分辨率分析 | 第27页 |
| ·小波分解的快速算法 | 第27-29页 |
| ·小波重构的快速算法 | 第29页 |
| ·本章小结 | 第29-30页 |
| 第3章 实验方案与技术路线 | 第30-40页 |
| ·铜合金粉末样品的制备 | 第30-31页 |
| ·铜合金样品的选购 | 第30-31页 |
| ·铜合金样品制备方法 | 第31页 |
| ·颗粒度效应的影响及对策 | 第31-32页 |
| ·基体效应校正技术 | 第32-35页 |
| ·基体效应的研究 | 第33页 |
| ·基体效应校正的方法 | 第33-35页 |
| ·仪器漂移修正 | 第35页 |
| ·实验仪器与样品 | 第35-39页 |
| ·实验仪器 | 第35-37页 |
| ·铜合金粉末样品 | 第37-39页 |
| ·本章小结 | 第39-40页 |
| 第4章 X 射线管参数选择和谱线处理 | 第40-59页 |
| ·X 射线管参数的选择 | 第40-49页 |
| ·固定管电流改变管电压的研究 | 第40-43页 |
| ·固定管电压改变管电流的研究 | 第43-46页 |
| ·最佳工作条件的选择 | 第46-49页 |
| ·谱线处理 | 第49-58页 |
| ·传统的谱线处理方法 | 第49-50页 |
| ·基于小波分析的谱线预处理 | 第50-58页 |
| ·本章小结 | 第58-59页 |
| 第5章 结果分析及讨论 | 第59-79页 |
| ·黄铜合金中Cu 和Zn 的分析 | 第59-63页 |
| ·黄铜中Cu 含量的测定 | 第59-60页 |
| ·黄铜中Zn 含量的测定 | 第60-63页 |
| ·青铜合金中Cu、Mn 和Sn 的分析 | 第63-69页 |
| ·锰青铜中Cu 含量的分析 | 第63-64页 |
| ·锰青铜中Mn 含量的测定 | 第64-66页 |
| ·锡青铜中Cu 含量的测定 | 第66-68页 |
| ·锡青铜中Sn 含量的测定 | 第68-69页 |
| ·白铜合金中Cu、Co、Ni 的分析 | 第69-76页 |
| ·白铜中Cu 含量的测定 | 第69-72页 |
| ·白铜中Ni、Co 含量的测定 | 第72-76页 |
| ·二元比例法分析锰青铜合金和黄铜合金 | 第76-78页 |
| ·黄铜分析结果 | 第76-77页 |
| ·锰青铜的分析结果 | 第77-78页 |
| ·误差分析 | 第78页 |
| ·本章小结 | 第78-79页 |
| 结论 | 第79-80页 |
| 致谢 | 第80-81页 |
| 参考文献 | 第81-84页 |
| 攻读学位期间取得学术成果 | 第84-85页 |
| 附录 | 第85-88页 |
