| 摘要 | 第3-5页 |
| ABSTRACT | 第5-7页 |
| 第一章 绪论 | 第11-33页 |
| 1.1 电缆和光纤的故障类型和起因 | 第11-13页 |
| 1.2 电缆故障的现有检测技术 | 第13-25页 |
| 1.2.1 时域反射仪(TDR) | 第14-17页 |
| 1.2.2 频域反射仪(FDR) | 第17-23页 |
| 1.2.3 时频域反射仪(TFDR) | 第23-25页 |
| 1.3 光纤故障的现有检测技术 | 第25-28页 |
| 1.3.1 脉冲光时域反射仪(Pulse-OTDR) | 第25-26页 |
| 1.3.2 相干光时域反射仪(Coherent-OTDR) | 第26-27页 |
| 1.3.3 相关光时域反射仪(Correlation-OTDR) | 第27-28页 |
| 1.4 混沌激光用于电缆和光纤检测的研究现状 | 第28-31页 |
| 1.5 混沌激光用于电缆和光纤检测面临的问题 | 第31页 |
| 1.6 本论文主要研究内容 | 第31-33页 |
| 第二章 微波混沌的产生及特征 | 第33-49页 |
| 2.1 微波混沌的典型产生方式 | 第33-37页 |
| 2.1.1 模拟系统 | 第33-35页 |
| 2.1.2 数字系统 | 第35-37页 |
| 2.2 Colpitts混沌电路 | 第37-44页 |
| 2.2.1 仿真研究 | 第38-40页 |
| 2.2.2 实验研究 | 第40-44页 |
| 2.3 布尔混沌电路 | 第44-48页 |
| 2.4 结论 | 第48-49页 |
| 第三章 Colpitts混沌时域反射仪 | 第49-61页 |
| 3.1 仿真研究 | 第49-51页 |
| 3.2 实验装置 | 第51-52页 |
| 3.3 测量原理与平均化离散消除算法 | 第52-55页 |
| 3.3.1 测量原理 | 第52-53页 |
| 3.3.2 平均化离散消除算法 | 第53-55页 |
| 3.4 实验结果 | 第55-59页 |
| 3.4.1 断路、短路和阻抗失配等故障的检测 | 第55-57页 |
| 3.4.2 测量范围 | 第57-58页 |
| 3.4.3 空间分辨率 | 第58-59页 |
| 3.5 结论 | 第59-61页 |
| 第四章 Colpitts混沌时域反射仪在线检测电缆故障 | 第61-71页 |
| 4.1 仿真研究 | 第61-63页 |
| 4.2 实验研究 | 第63-68页 |
| 4.2.1 实验装置 | 第63-64页 |
| 4.2.2 实验结果 | 第64-68页 |
| 4.3 结论 | 第68-71页 |
| 第五章 布尔混沌时域反射仪及样机 | 第71-81页 |
| 5.1 实验装置 | 第71-72页 |
| 5.2 实验结果 | 第72-73页 |
| 5.2.1 断路、短路和阻抗失配等故障的检测 | 第72页 |
| 5.2.2 测量范围 | 第72-73页 |
| 5.3 布尔混沌时域反射仪样机 | 第73-80页 |
| 5.3.1 硬件系统设计 | 第73-74页 |
| 5.3.2 软件系统设计 | 第74-76页 |
| 5.3.3 测量实例 | 第76-80页 |
| 5.4 结论 | 第80-81页 |
| 第六章 基于Colpitts电路直接调制的混沌光时域反射仪 | 第81-93页 |
| 6.1 单波长的混沌光时域反射仪 | 第81-86页 |
| 6.1.1 实验装置 | 第81-82页 |
| 6.1.2 单波长混沌激光特性 | 第82-83页 |
| 6.1.3 实验结果 | 第83-86页 |
| 6.2 波长可调的混沌光时域反射仪 | 第86-90页 |
| 6.2.1 实验装置 | 第86-87页 |
| 6.2.2 波长可调谐的混沌激光特性 | 第87-89页 |
| 6.2.3 实验结果 | 第89-90页 |
| 6.3 结论 | 第90-93页 |
| 第七章 总结和展望 | 第93-95页 |
| 7.1 工作总结 | 第93-94页 |
| 7.2 未来工作展望 | 第94-95页 |
| 参考文献 | 第95-107页 |
| 图表索引 | 第107-111页 |
| 致谢 | 第111-113页 |
| 攻读博士学位期间取得的科研成果 | 第113-116页 |
