| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 1 绪论 | 第8-18页 |
| 1.1 超导材料简介 | 第8-10页 |
| 1.1.1 高温超导材料分类 | 第8-9页 |
| 1.1.2 高温超导涂层导体 | 第9-10页 |
| 1.2 高温超导涂层导体用过渡层的研究 | 第10-12页 |
| 1.2.1 过渡层主要制备技术路线 | 第10-11页 |
| 1.2.2 过渡层的分类 | 第11-12页 |
| 1.3 YBCO涂层导体的制备方法 | 第12-13页 |
| 1.3.1 脉冲激光沉积（PLD）法 | 第12页 |
| 1.3.2 金属有机气相沉积（MOCVD）法 | 第12-13页 |
| 1.3.3 化学溶液沉积（CSD）法 | 第13页 |
| 1.4 近年来YBCO涂层导体研究进展 | 第13-15页 |
| 1.4.1 国外研究进展 | 第13-14页 |
| 1.4.2 国内研究进展 | 第14-15页 |
| 1.5 本课题选题依据和内容 | 第15-18页 |
| 2 实验方案与分析表征方法 | 第18-26页 |
| 2.1 引言 | 第18页 |
| 2.2 实验方案设计 | 第18-20页 |
| 2.2.1 研究流程 | 第18-19页 |
| 2.2.2 实验材料 | 第19页 |
| 2.2.3 涂层导体基底选择及处理方案 | 第19-20页 |
| 2.3 实验设备 | 第20-22页 |
| 2.3.1 常用设备 | 第20页 |
| 2.3.2 镀膜设备 | 第20-21页 |
| 2.3.3 热处理设备 | 第21-22页 |
| 2.4 实验分析表征方法 | 第22-23页 |
| 2.4.1 X射线衍射仪 | 第22页 |
| 2.4.2 扫描电子显微镜 | 第22页 |
| 2.4.3 原子力显微镜 | 第22页 |
| 2.4.4 四探针防阻测试仪 | 第22-23页 |
| 2.4.5 综合物性测量系统 | 第23页 |
| 2.5 小结 | 第23-26页 |
| 3 单一过渡层SrTiO_3（STO）薄膜的研究与制备 | 第26-38页 |
| 3.1 SrTiO_3（STO）薄膜的研究与制备 | 第26-29页 |
| 3.1.1 前驱液配制方案的研究 | 第26-28页 |
| 3.1.2 STO薄膜热处理工艺研究 | 第28-29页 |
| 3.2 La掺杂STO薄膜的研究与制备 | 第29-35页 |
| 3.2.1 LSTO薄膜前驱液配制方案研究 | 第29-32页 |
| 3.2.2 LSTO薄膜热处理方案的研究 | 第32-34页 |
| 3.2.3 薄膜厚度研究 | 第34-35页 |
| 3.3 单一过渡层LSTO上YBCO的外延生长研究 | 第35-36页 |
| 3.4 小结 | 第36-38页 |
| 4 YBCO/CeO_2/La_2Zr_2O_7（LZO）涂层导体的研究与制备 | 第38-60页 |
| 4.1 LZO过渡层的研究与制备 | 第38-46页 |
| 4.1.1 前驱体溶液的配制 | 第38-39页 |
| 4.1.2 前驱体溶液的镧锆元素比例研究 | 第39-42页 |
| 4.1.3 薄膜热处理方案优化 | 第42-44页 |
| 4.1.4 厚度对薄膜表面的影响 | 第44-46页 |
| 4.2 CeO_2过渡层薄膜的研究与制备 | 第46-48页 |
| 4.2.1 前驱体溶液的研究 | 第46-47页 |
| 4.2.2 热处理方案的研究 | 第47-48页 |
| 4.3 CeO_2/La_2Zr_2O_7（LZO）复合过渡层的研究与制备 | 第48-50页 |
| 4.4 复合过渡层上YBCO的研究与制备 | 第50-59页 |
| 4.4.1 薄膜制备工艺 | 第51-52页 |
| 4.4.2 不同复合过渡层上外延生长YBCO薄膜的研究 | 第52-53页 |
| 4.4.3 氧分压对YBCO薄膜的影响研究 | 第53-55页 |
| 4.4.4 单层YBCO薄膜J_c测试分析 | 第55-57页 |
| 4.4.5 厚膜的研究与制备 | 第57-59页 |
| 4.5 小结 | 第59-60页 |
| 5 结论与展望 | 第60-62页 |
| 5.1 结论 | 第60页 |
| 5.2 展望 | 第60-62页 |
| 致谢 | 第62-64页 |
| 参考文献 | 第64-70页 |
| 作者在硕士期间发表的论文 | 第70页 |
