容错存储系统校验更新及修复优化技术研究
| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 第1章 绪论 | 第15-23页 |
| 1.1 分布式存储 | 第15-18页 |
| 1.1.1 海量数据存储 | 第15-16页 |
| 1.1.2 分布式存储系统和RAID | 第16-18页 |
| 1.2 存储系统容错 | 第18-20页 |
| 1.2.1 多副本策略 | 第18-19页 |
| 1.2.2 纠删码容错技术 | 第19-20页 |
| 1.2.3 两种容错技术对比 | 第20页 |
| 1.3 存储系统校验数据更新和修复相关研究工作 | 第20-22页 |
| 1.3.1 存储系统校验更新优化研究 | 第20-21页 |
| 1.3.2 存储系统故障节点修复研究 | 第21-22页 |
| 1.4 本文的主要研究内容及贡献 | 第22页 |
| 1.5 本文的组织结构 | 第22-23页 |
| 第2章 存储系统编码及故障修复相关技术 | 第23-35页 |
| 2.1 纠删码简介 | 第23-28页 |
| 2.1.1 纠删码分类 | 第24-26页 |
| 2.1.2 存储系统中常用的纠删码简介 | 第26-28页 |
| 2.2 纠删码存储系统校验更新 | 第28-32页 |
| 2.2.1 存储系统扩容问题简介 | 第29-30页 |
| 2.2.2 校验更新的两种方式 | 第30-31页 |
| 2.2.3 存储系统扩容过程中校验更新优化研究 | 第31-32页 |
| 2.3 存储系统单节点修复优化研究 | 第32-34页 |
| 2.3.1 RDP码混合修复 | 第32-33页 |
| 2.3.2 LRC码 | 第33-34页 |
| 2.4 本文的研究意义 | 第34页 |
| 2.5 本章小结 | 第34-35页 |
| 第3章 存储系统校验数据更新优化策略 | 第35-55页 |
| 3.1 校验更新方式选择算法 | 第35-44页 |
| 3.1.1 校验更新过程介绍 | 第35-38页 |
| 3.1.2 校验更新方式选择影响因素 | 第38-39页 |
| 3.1.3 Naive-EPU算法具体实现 | 第39-42页 |
| 3.1.4 Naive-EPU算法性能分析 | 第42-44页 |
| 3.2 Advanced-EPU算法设计与实现 | 第44-47页 |
| 3.2.1 I/O聚集情况分析 | 第44-45页 |
| 3.2.2 用户I/O与扩容I/O的重叠 | 第45-46页 |
| 3.2.3 Advanced-EPU实现 | 第46-47页 |
| 3.3 实验与分析 | 第47-54页 |
| 3.3.1 实验环境设置 | 第47-49页 |
| 3.3.2 实验结果与分析 | 第49-54页 |
| 3.4 本章小结 | 第54-55页 |
| 第4章 校验数据修复优化技术研究 | 第55-69页 |
| 4.1 RS码和LRC码校验修复 | 第55-57页 |
| 4.2 ESRC编码构建方法 | 第57-62页 |
| 4.2.1 一个ESRC编码实例 | 第57-58页 |
| 4.2.2 ESRC编码等式构造方法 | 第58-61页 |
| 4.2.3 ESRC编码一般构造方法 | 第61-62页 |
| 4.3 ESRC编码性能分析 | 第62-65页 |
| 4.3.1 单节点修复性能 | 第62-63页 |
| 4.3.2 编码容错能力和可靠性分析 | 第63-64页 |
| 4.3.3 编码存储开销 | 第64页 |
| 4.3.4 ESRC编码与其他编码性能对比分析 | 第64-65页 |
| 4.4 ESRC编码校验修复 | 第65-67页 |
| 4.4.1 ESRC编码校验修复方法 | 第65-66页 |
| 4.4.2 ESRC编码校验修复性能 | 第66-67页 |
| 4.5 本章小结 | 第67-69页 |
| 第5章 总结与展望 | 第69-71页 |
| 5.1 本文研究内容和成果 | 第69-70页 |
| 5.2 未来工作展望 | 第70-71页 |
| 参考文献 | 第71-77页 |
| 致谢 | 第77-79页 |
| 在读期间发表的学术论文与取得的研究成果 | 第79页 |
