摘要 | 第4-6页 |
Abstract | 第6-8页 |
第1章 前言 | 第12-27页 |
1.1 研究背景 | 第12-15页 |
1.1.1 高氯酸盐的性质与危害 | 第12页 |
1.1.2 高氯酸盐的来源与污染 | 第12-15页 |
1.2 水中高氯酸盐的处理技术 | 第15-21页 |
1.2.1 物理法 | 第15-19页 |
1.2.2 化学法 | 第19-21页 |
1.2.3 生物法 | 第21页 |
1.3 纳米铁去除高氯酸盐及纳米铁稳定方法 | 第21-23页 |
1.3.1 零价铁去除高氯酸盐的研究 | 第21-22页 |
1.3.2 稳定型纳米零价铁的稳定方法 | 第22-23页 |
1.4 稳定型纳米铁的制备及稳定材料的选择 | 第23-25页 |
1.4.1 纳米铁的制备方法 | 第23页 |
1.4.2 稳定型纳米铁稳定剂的选择 | 第23-25页 |
1.5 课题的提出及其意义 | 第25页 |
1.6 研究内容及技术路线 | 第25-26页 |
1.7 本章小结 | 第26-27页 |
第2章 壳聚糖稳定型纳米铁的制备与表征 | 第27-40页 |
2.1 实验材料与方法 | 第27-29页 |
2.1.1 实验试剂与仪器 | 第27-28页 |
2.1.2 纳米铁制备装置 | 第28-29页 |
2.2 纳米铁及稳定型纳米铁的制备方法 | 第29页 |
2.2.1 纳米铁的制备 | 第29页 |
2.2.2 稳定型纳米铁的制备 | 第29页 |
2.3 水中高氯酸盐去除及检测方法 | 第29-31页 |
2.3.1 高氯酸盐的去除 | 第29-30页 |
2.3.2 高氯酸盐的检测 | 第30-31页 |
2.4 纳米铁的表征条件 | 第31-32页 |
2.4.1 透射电镜(TEM) | 第31-32页 |
2.4.2 扫描电镜(SEM) | 第32页 |
2.4.3 X射线衍射(XRD) | 第32页 |
2.4.4 X射线光电子能谱(XPS) | 第32页 |
2.4.5 红外光谱(FT-IR) | 第32页 |
2.5 纳米铁的表征结果 | 第32-34页 |
2.5.1 透射电镜(TEM) | 第32-33页 |
2.5.2 X射线衍射(XRD) | 第33-34页 |
2.6 稳定型纳米铁制备条件 | 第34-38页 |
2.6.1 壳聚糖用量影响 | 第35-36页 |
2.6.2 制备体系中乙醇比例的影响 | 第36页 |
2.6.3 温度对制备的影响 | 第36-37页 |
2.6.4 不同稳定剂对去除效果的比较 | 第37-38页 |
2.6.5 壳聚糖稳定型纳米铁的制备条件 | 第38页 |
2.7 本章小结 | 第38-40页 |
第3章 壳聚糖稳定型纳米铁去除水中高氯酸盐 | 第40-52页 |
3.1 实验材料与方法 | 第40-41页 |
3.1.1 实验试剂与仪器 | 第40-41页 |
3.1.2 实验方法 | 第41页 |
3.2 去除高氯酸盐影响因素的实验条件 | 第41-43页 |
3.2.1 还原铁粉、纳米铁和壳聚糖稳定型纳米铁去除高氯酸盐 | 第41-42页 |
3.2.2 壳聚糖稳定型纳米铁投加量 | 第42页 |
3.2.3 反应温度 | 第42页 |
3.2.4 高氯酸盐溶液初始pH | 第42页 |
3.2.5 溶液初始浓度 | 第42页 |
3.2.6 盐度 | 第42-43页 |
3.2.7 共存离子 | 第43页 |
3.3 结果与讨论 | 第43-51页 |
3.3.1 还原铁粉、纳米铁和壳聚糖稳定型纳米铁去除高氯酸盐的比较 | 第43-44页 |
3.3.2 投加量对高氯酸盐去除的影响 | 第44-45页 |
3.3.3 反应温度对高氯酸盐去除的影响 | 第45-46页 |
3.3.4 溶液初始pH对高氯酸盐去除的影响 | 第46-48页 |
3.3.5 高氯酸盐初始浓度对高氯酸盐去除的影响 | 第48页 |
3.3.6 盐度对高氯酸盐去除的影响 | 第48-50页 |
3.3.7 共存离子对高氯酸盐去除的影响 | 第50-51页 |
3.4 本章小结 | 第51-52页 |
第4章 反应动力学及反应机理初探 | 第52-65页 |
4.1 实验材料与方法 | 第52-53页 |
4.1.1 实验仪器与试剂 | 第52-53页 |
4.1.2 实验方法 | 第53页 |
4.2 结果与讨论 | 第53-57页 |
4.2.1 投加量与表观速率常数的关系 | 第53-54页 |
4.2.2 反应温度与表观速率常数的关系 | 第54-56页 |
4.2.3 高氯酸盐初始浓度与表观速率常数的关系 | 第56-57页 |
4.3 反应体系氯元素平衡分析 | 第57-59页 |
4.4 反应前后表征分析 | 第59-63页 |
4.4.1 扫描电镜(SEM) | 第59页 |
4.4.2 红外光谱(FT-IR) | 第59-61页 |
4.4.3 X射线光电子能谱(XPS) | 第61-63页 |
4.5 本章小结 | 第63-65页 |
结论 | 第65-67页 |
致谢 | 第67-69页 |
参考文献 | 第69-78页 |
攻读学位期间取得学术成果 | 第78页 |