| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 1 绪论 | 第10-16页 |
| 1.1 母线保护的重要性和必要性 | 第10页 |
| 1.2 母线保护的发展过程和主要保护原理 | 第10-13页 |
| 1.2.1 电流相位比较式母线保护 | 第10-11页 |
| 1.2.2 中阻抗母线保护 | 第11页 |
| 1.2.3 工频电流相量差动保护 | 第11-12页 |
| 1.2.4 电流采样值差动保护 | 第12页 |
| 1.2.5 行波母线保护 | 第12-13页 |
| 1.3 母线区外故障CT饱和问题 | 第13-14页 |
| 1.4 母线区内故障电流流出问题 | 第14页 |
| 1.5 本文主要工作 | 第14-16页 |
| 2 电流互感器饱和机理与特性研究 | 第16-23页 |
| 2.1 CT饱和原因概述 | 第16-17页 |
| 2.2 CT饱和特性分析 | 第17-19页 |
| 2.3 母线差动保护的抗CT饱和方法 | 第19-21页 |
| 2.3.1 时差法 | 第19页 |
| 2.3.2 CT线性传变区母线差动保护 | 第19页 |
| 2.3.3 基于差流变化率的CT饱和识别法 | 第19-20页 |
| 2.3.4 基于波形对称原理的CT饱和识别法 | 第20页 |
| 2.3.5 谐波类判据 | 第20页 |
| 2.3.6 差分法 | 第20-21页 |
| 2.3.7 磁制动法 | 第21页 |
| 2.4 本章小结 | 第21-23页 |
| 3 改进的母线采样值差动保护判据研究 | 第23-34页 |
| 3.1 常规采样值差动判据 | 第23-27页 |
| 3.1.1 数据窗的选择 | 第23-25页 |
| 3.1.2 S、R的选取 | 第25页 |
| 3.1.3 关于模糊区的讨论 | 第25-27页 |
| 3.1.4 制动系数的选取 | 第27页 |
| 3.2 改进的母线采样值差动保护判据的基本原理 | 第27-33页 |
| 3.2.1 故障启动元件 | 第28-29页 |
| 3.2.2 CT饱和的识别和第一个线性传变区的判断 | 第29-32页 |
| 3.2.3 CT线性传变区的预测和采样值差动判据 | 第32-33页 |
| 3.3 本章小结 | 第33-34页 |
| 4 影响改进的母线采样值差动保护判据动作性能的因素 | 第34-43页 |
| 4.1 CT饱和程度的变化 | 第34页 |
| 4.2 发展性故障的影响 | 第34-37页 |
| 4.2.1 A相短路接地 | 第34页 |
| 4.2.2 AC短路接地 | 第34-36页 |
| 4.2.3 AC相间短路 | 第36页 |
| 4.2.4 三相短路 | 第36-37页 |
| 4.3 频率偏移的影响 | 第37-40页 |
4.3.1 频率变大(50Hz| 第37-38页 | |
4.3.2 频率变小(45Hz| 第38-40页 | |
| 4.4 故障初始条件的影响 | 第40-42页 |
| 4.5 本章小结 | 第42-43页 |
| 5 算法验证及动作特性分析 | 第43-59页 |
| 5.1 故障仿真模型 | 第43页 |
| 5.2 算法编写 | 第43-45页 |
| 5.3 动作特性分析 | 第45-51页 |
| 5.3.1 区内故障 | 第45-46页 |
| 5.3.2 区外故障 | 第46-48页 |
| 5.3.3 区外转区内故障 | 第48-51页 |
| 5.4 对影响因素的仿真验证 | 第51-57页 |
| 5.4.1 故障初始条件 | 第51-53页 |
| 5.4.2 频率偏移 | 第53-56页 |
| 5.4.3 采样频率 | 第56-57页 |
| 5.5 本章小结 | 第57-59页 |
| 6 母线区内故障电流流出问题应对措施 | 第59-64页 |
| 6.1 流出电流的对常规采样值差动保护的影响 | 第59-61页 |
| 6.2 克服流出电流影响的措施 | 第61-62页 |
| 6.3 新判据与基于CT线性传变区采样值差动保护的配合 | 第62-63页 |
| 6.4 本章小结 | 第63-64页 |
| 7 结论与展望 | 第64-65页 |
| 7.1 结论 | 第64页 |
| 7.2 展望 | 第64-65页 |
| 致谢 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-69页 |
| 附录 | 第69页 |
