| 致谢 | 第1-5页 |
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 目录 | 第7-8页 |
| Contents | 第8-9页 |
| 图清单 | 第9-15页 |
| 表清单 | 第15-17页 |
| 变量注释表 | 第17-19页 |
| 1 引言 | 第19-27页 |
| ·概述 | 第19-20页 |
| ·研究现状 | 第20-23页 |
| ·开关磁阻电机系统可靠性研究的意义 | 第23-25页 |
| ·本文的主要研究内容 | 第25-27页 |
| 2 基于 Markov 模型的开关磁阻电机系统可靠性研究 | 第27-57页 |
| ·概述 | 第27页 |
| ·Markov 可靠性建模原理 | 第27-30页 |
| ·基于 Markov 模型的开关磁阻电机系统可靠性分析 | 第30-55页 |
| ·本章小结 | 第55-57页 |
| 3 基于失效物理的功率开关器件可靠性研究 | 第57-106页 |
| ·概述 | 第57-58页 |
| ·电-热耦合模型的建立 | 第58-96页 |
| ·热-机械耦合模型的建立 | 第96-104页 |
| ·功率 MOSFET 的热疲劳寿命预测 | 第104-105页 |
| ·本章小结 | 第105-106页 |
| 4 结论与展望 | 第106-108页 |
| ·工作小结 | 第106页 |
| ·工作展望 | 第106-108页 |
| 参考文献 | 第108-115页 |
| 作者简历 | 第115-117页 |
| 学位论文数据集 | 第117页 |