基于COTS DSP的软件抗辐照技术研究
表目录 | 第1-8页 |
图目录 | 第8-9页 |
摘要 | 第9-10页 |
ABSTRACT | 第10-12页 |
第一章 绪论 | 第12-17页 |
·研究背景及意义 | 第12-15页 |
·软错误与计算可靠性问题 | 第12-13页 |
·容软错误技术 | 第13页 |
·抗辐照 DSP 研究现状 | 第13-14页 |
·COTS DSP 软件抗辐照加固的意义 | 第14-15页 |
·本文主要工作 | 第15页 |
·论文结构 | 第15-17页 |
第二章 技术背景 | 第17-28页 |
·容软错误技术概述 | 第17-21页 |
·容错技术相关概念 | 第17-18页 |
·容软错误的基本原理 | 第18-20页 |
·硬件容错技术的现状与不足 | 第20-21页 |
·软件容错技术的优点 | 第21页 |
·软件容错相关研究成果 | 第21-23页 |
·进程级容错 | 第22页 |
·线程级容错 | 第22页 |
·高级语言级容错 | 第22-23页 |
·基于特定算法的容错 | 第23页 |
·指令级容错相关研究 | 第23-27页 |
·数据流检测技术 | 第23-25页 |
·控制流检测技术 | 第25-27页 |
·容错验证技术 | 第27页 |
·本章小结 | 第27-28页 |
第三章 基于线性汇编的 DSP 程序软加固算法 | 第28-49页 |
·TMS320C6000 系列 DSP 体系结构 | 第28-31页 |
·C6000 系列 DSP 结构特点 | 第28-30页 |
·C6000 系列 DSP 并行执行特点 | 第30页 |
·线性汇编实现加固算法的优势 | 第30-31页 |
·软错误对 DSP 芯片的影响 | 第31-34页 |
·软错误敏感单元 | 第31页 |
·存储型模块中软错误造成的影响 | 第31-33页 |
·功能型模块中软错误造成的影响 | 第33页 |
·软错误造成的错误传播与失效 | 第33-34页 |
·基于指令复算的数据流检测算法适应性改造 | 第34-37页 |
·C6000 系列 DSP 指令集 | 第34-36页 |
·指令复算方法 | 第36-37页 |
·指令复算算法小结 | 第37页 |
·基于 DSP 的控制流检测算法 | 第37-45页 |
·静态标签的分配策略 | 第38-40页 |
·控制流检测原理 | 第40-43页 |
·控制流检测能力分析 | 第43-44页 |
·CFCBD 算法小结 | 第44-45页 |
·SEDLA 算法 | 第45-47页 |
·SEDLA 算法原理 | 第45-46页 |
·SEDLA 算法检测盲点分析 | 第46-47页 |
·SEDLA 算法的优势与不足 | 第47页 |
·本章小结 | 第47-49页 |
第四章 加固算法性能优化技术研究 | 第49-58页 |
·SEDLA 算法优化 | 第49-51页 |
·分支检测优化 | 第49-50页 |
·控制流检测优化 | 第50-51页 |
·程序加固后的性能分析 | 第51-53页 |
·加固后程序执行效率分析 | 第51-52页 |
·加固后程序流水失效原因分析 | 第52-53页 |
·DSP 程序循环优化算法 | 第53-56页 |
·DLOA 算法原理 | 第53-54页 |
·DLOA 算法实现 | 第54-56页 |
·DLOA 的改进算法 | 第56页 |
·本章小结 | 第56-58页 |
第五章 容错算法的实现与验证 | 第58-63页 |
·容错系统的设计 | 第58-59页 |
·故障注入实验 | 第59-62页 |
·故障注入工具的设计 | 第60-61页 |
·故障注入实验结果分析 | 第61-62页 |
·本章小结 | 第62-63页 |
第六章 结束语 | 第63-65页 |
·工作总结 | 第63-64页 |
·工作展望 | 第64-65页 |
致谢 | 第65-66页 |
参考文献 | 第66-71页 |
作者在学期间取得的学术成果 | 第71页 |