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微焊点界面的柯肯达尔孔洞生长及其抑制研究

摘要第1-6页
Abstract第6-10页
1 绪 论第10-23页
   ·研究意义及背景第10-15页
   ·国内外发展及现状第15-22页
   ·研究目的第22页
   ·研究内容第22-23页
2 试验过程及研究方法第23-31页
   ·研究工艺路线第23页
   ·微焊点的制备方法第23-26页
   ·实验方案第26-29页
   ·研究方法第29-31页
3 时效老化对Kirkendall 孔洞形成的影响第31-45页
   ·引言第31页
   ·时效老化时IMC 的生长和Cu-Sn 的扩散第31-33页
   ·回流过程中SnAgCu 焊料与电镀Cu 反应过程分析第33-35页
   ·研究时效老化对Kirkendall 孔洞形成的影响第35-44页
   ·本章小结第44-45页
4 UBM 材料和材质对Kirkendall 孔洞的形成的影响第45-62页
   ·Cu 层的材质对Kirkendall 孔洞的影响第45-57页
   ·Ni 镀层与焊料之间的Kirkendall 孔洞第57-61页
   ·本章小结第61-62页
5 Kirkendall 孔洞对微焊点拉伸性能的影响第62-74页
   ·时效老化对Cu/Sn3.0Ag0.5Cu/Cu 焊点界面Kirkendall 孔洞的影响第63-65页
   ·老化对Cu/Sn3.0Ag0.5Cu/Cu 焊点的拉伸性能的影响第65-73页
   ·本章小结第73-74页
6、全文总结及展望第74-76页
   ·总结第74-75页
   ·展望第75-76页
致谢第76-77页
参考文献第77-82页
附录1 攻读硕士学位期间发表的论文目录第82页

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