TFT-LCD显示屏Mura缺陷自动光学检测算法研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-17页 |
| ·课题背景及来源 | 第10-13页 |
| ·自动光学检测国内外研究现状 | 第13-15页 |
| ·本文主要工作 | 第15-16页 |
| ·本文结构安排 | 第16-17页 |
| 第二章 Mura 缺陷分析与总体方案设计 | 第17-26页 |
| ·Mura 缺陷分析 | 第17-22页 |
| ·TFT-LCD 显示屏结构与驱动原理 | 第17-18页 |
| ·Mura 缺陷成因 | 第18-19页 |
| ·Mura 缺陷分类 | 第19-21页 |
| ·Mura 缺陷检测难点 | 第21-22页 |
| ·总体方案设计 | 第22-24页 |
| ·系统性能需求 | 第22页 |
| ·缺陷检测算法流程 | 第22-24页 |
| ·模块方案设计及关键技术分析 | 第24页 |
| ·本章小结 | 第24-26页 |
| 第三章 图像预处理 | 第26-37页 |
| ·图像滤波算法 | 第26-28页 |
| ·感兴趣区域分割 | 第28-34页 |
| ·亮度不均匀校正 | 第34-36页 |
| ·本章小结 | 第36-37页 |
| 第四章 Mura 缺陷分割 | 第37-61页 |
| ·背景重构算法 | 第37-47页 |
| ·多项式拟合算法 | 第38-41页 |
| ·B 样条拟合算法 | 第41-47页 |
| ·数学形态学处理 | 第47-59页 |
| ·腐蚀操作 | 第49-51页 |
| ·膨胀操作 | 第51-54页 |
| ·开运算操作 | 第54-56页 |
| ·闭运算操作 | 第56-58页 |
| ·数学形态学实验设计 | 第58-59页 |
| ·本章小结 | 第59-61页 |
| 第五章 Mura 缺陷量化 | 第61-68页 |
| ·Mura 缺陷量化 | 第61-66页 |
| ·特征的选择 | 第61-62页 |
| ·对比度 | 第62-63页 |
| ·面积参数 | 第63页 |
| ·边缘和周长参数 | 第63-65页 |
| ·位置参数 | 第65-66页 |
| ·特征提取实验及 Mura 缺陷判定 | 第66-67页 |
| ·本章小结 | 第67-68页 |
| 第六章 Mura 缺陷检测实验 | 第68-76页 |
| ·图像采集 | 第68-71页 |
| ·检测结果 | 第71-76页 |
| 第七章 总结与展望 | 第76-78页 |
| ·课题总结 | 第76页 |
| ·课题展望 | 第76-78页 |
| 致谢 | 第78-79页 |
| 参考文献 | 第79-82页 |
| 在学期间的研究成果 | 第82-83页 |
