| 中文摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 序言 | 第10-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-17页 |
| ·研究背景和意义 | 第12-14页 |
| ·光网络性能监测意义和研究目标 | 第14-17页 |
| ·光网络性能监测意义 | 第14-15页 |
| ·光通道性能监测模块的技术指标 | 第15-16页 |
| ·光通道性能监测 OPM 研究目标 | 第16-17页 |
| 第二章 OSNR 技术原理 | 第17-33页 |
| ·带内（In-Band）OSNR 与带外（Out-Band）OSNR 的区别 | 第17-18页 |
| ·带外（Out-Band）OSNR 技术 | 第18-23页 |
| ·带外插值法 | 第18-20页 |
| ·基于干涉型 OSNR 测试方法 | 第20-22页 |
| ·基于衍射型 OSNR 测试方法 | 第22-23页 |
| ·带内（In-Band）OPM 技术 | 第23-31页 |
| ·基于偏振的 OSNR 测试方法 | 第24-27页 |
| ·低频差拍噪声测量法 | 第27-28页 |
| ·正交零差延时法 | 第28-29页 |
| ·基于非线性效应的 OSNR 测试方法 | 第29-31页 |
| ·本章综述 | 第31-33页 |
| 第三章 基于偏振技术带内 OSNR 测试技术 | 第33-39页 |
| ·传统偏振 OPM 技术的缺陷 | 第33-34页 |
| ·光谱分析响应法原理 | 第34-39页 |
| ·差分偏振响应方法 | 第34-37页 |
| ·差分带宽分辨响应方法 | 第37-38页 |
| ·差分光谱响应法 | 第38-39页 |
| 第四章 OPM 技术 OptiSystem 仿真 | 第39-52页 |
| ·Optisystem 软件简介 | 第39-40页 |
| ·带外插值法仿真与分析 | 第40-43页 |
| ·仿真过程 | 第40-41页 |
| ·仿真分析与存在的问题 | 第41-43页 |
| ·信号关断法仿真与分析 | 第43-46页 |
| ·仿真过程 | 第43-45页 |
| ·仿真分析与存在的问题 | 第45-46页 |
| ·偏振解析光谱分析法仿真 | 第46-50页 |
| ·仿真过程 | 第46-49页 |
| ·仿真分析与存在的问题 | 第49-50页 |
| ·本章综述 | 第50-52页 |
| 第五章 总结与展望 | 第52-54页 |
| ·论文工作总结 | 第52页 |
| ·未来工作展望 | 第52-54页 |
| 参考文献 | 第54-56页 |
| 附录 | 第56-59页 |
| 致谢 | 第59-60页 |