| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 1 绪论 | 第7-12页 |
| ·夜视技术 | 第7页 |
| ·微光像增强器的原理及发展简介 | 第7-10页 |
| ·微光像增强器的基本原理和结构 | 第7-8页 |
| ·微光像增强器的发展简史 | 第8-10页 |
| ·本文研究背景 | 第10-11页 |
| ·本文的主要工作 | 第11-12页 |
| 2 MCP与荧光屏理论基础 | 第12-21页 |
| ·MCP的工作原理、结构特性以及评价参数 | 第12-18页 |
| ·微通道板的增益特性 | 第13-14页 |
| ·微通道板的电流传递特性 | 第14-15页 |
| ·微通道板的噪声 | 第15-16页 |
| ·微通道板的空间分辨率 | 第16-17页 |
| ·微通道板离子阻挡膜 | 第17-18页 |
| ·荧光屏的工作原理、结构特性以及评价参数 | 第18-21页 |
| ·荧光屏的工作原理 | 第18页 |
| ·荧光屏的结构特性 | 第18-19页 |
| ·荧光屏的评价参数 | 第19-21页 |
| 3 MCP与荧光屏组件噪声特性测试系统 | 第21-42页 |
| ·噪声特性测试系统 | 第21-26页 |
| ·测试系统整体 | 第21-22页 |
| ·系统机械结构 | 第22-26页 |
| ·真空系统 | 第26-27页 |
| ·光学系统 | 第27-29页 |
| ·反射装置 | 第27页 |
| ·共轭透镜 | 第27-28页 |
| ·观察镜组件及可调光阑 | 第28-29页 |
| ·信号探测系统光学设计 | 第29页 |
| ·MCP与荧光屏组件 | 第29-31页 |
| ·MCP与荧光屏组件模型 | 第29-30页 |
| ·夹具 | 第30-31页 |
| ·信号采集与处理系统 | 第31-38页 |
| ·电子枪与电子光学系统 | 第31-33页 |
| ·光电信号采集系统 | 第33-36页 |
| ·信号处理模块 | 第36-38页 |
| ·测试系统控制软件 | 第38-42页 |
| ·真空系统控制 | 第39-40页 |
| ·数据采集 | 第40-41页 |
| ·数据库 | 第41-42页 |
| 4 MCP与荧光屏组件噪声特性测试实验及分析 | 第42-60页 |
| ·测试过程 | 第42-44页 |
| ·信噪比测试 | 第42-43页 |
| ·噪声频谱分析 | 第43-44页 |
| ·真空系统测试 | 第44-46页 |
| ·抽真空的步骤 | 第44页 |
| ·真空系统性能分析 | 第44-46页 |
| ·MCP与荧光屏组件噪声特性测试 | 第46-51页 |
| ·信噪比测试 | 第46-49页 |
| ·噪声频谱测试 | 第49-51页 |
| ·离子阻挡膜对MCP与荧光屏组件噪声特性的影响 | 第51-55页 |
| ·离子阻挡膜对组件输出信噪比影响的测试 | 第51-53页 |
| ·离子阻挡膜对通道板噪声频谱影响分析 | 第53-55页 |
| ·离子阻挡膜厚度对MCP与荧光屏组件噪声特性的影响 | 第55-59页 |
| ·离子阻挡膜厚度对组件输出信噪比影响的测试 | 第55-57页 |
| ·不同离子阻挡膜厚度通道板噪声频谱分析 | 第57-59页 |
| ·小结 | 第59-60页 |
| 5 结束语 | 第60-62页 |
| ·本文工作小结 | 第60页 |
| ·有待进一步解决的问题 | 第60-62页 |
| 致谢 | 第62-63页 |
| 参考文献 | 第63-65页 |