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MCP与荧光屏组件的噪声特性测试与分析

摘要第1-4页
Abstract第4-7页
1 绪论第7-12页
   ·夜视技术第7页
   ·微光像增强器的原理及发展简介第7-10页
     ·微光像增强器的基本原理和结构第7-8页
     ·微光像增强器的发展简史第8-10页
   ·本文研究背景第10-11页
   ·本文的主要工作第11-12页
2 MCP与荧光屏理论基础第12-21页
   ·MCP的工作原理、结构特性以及评价参数第12-18页
     ·微通道板的增益特性第13-14页
     ·微通道板的电流传递特性第14-15页
     ·微通道板的噪声第15-16页
     ·微通道板的空间分辨率第16-17页
     ·微通道板离子阻挡膜第17-18页
   ·荧光屏的工作原理、结构特性以及评价参数第18-21页
     ·荧光屏的工作原理第18页
     ·荧光屏的结构特性第18-19页
     ·荧光屏的评价参数第19-21页
3 MCP与荧光屏组件噪声特性测试系统第21-42页
   ·噪声特性测试系统第21-26页
     ·测试系统整体第21-22页
     ·系统机械结构第22-26页
   ·真空系统第26-27页
   ·光学系统第27-29页
     ·反射装置第27页
     ·共轭透镜第27-28页
     ·观察镜组件及可调光阑第28-29页
     ·信号探测系统光学设计第29页
   ·MCP与荧光屏组件第29-31页
     ·MCP与荧光屏组件模型第29-30页
     ·夹具第30-31页
   ·信号采集与处理系统第31-38页
     ·电子枪与电子光学系统第31-33页
     ·光电信号采集系统第33-36页
     ·信号处理模块第36-38页
   ·测试系统控制软件第38-42页
     ·真空系统控制第39-40页
     ·数据采集第40-41页
     ·数据库第41-42页
4 MCP与荧光屏组件噪声特性测试实验及分析第42-60页
   ·测试过程第42-44页
     ·信噪比测试第42-43页
     ·噪声频谱分析第43-44页
   ·真空系统测试第44-46页
     ·抽真空的步骤第44页
     ·真空系统性能分析第44-46页
   ·MCP与荧光屏组件噪声特性测试第46-51页
     ·信噪比测试第46-49页
     ·噪声频谱测试第49-51页
   ·离子阻挡膜对MCP与荧光屏组件噪声特性的影响第51-55页
     ·离子阻挡膜对组件输出信噪比影响的测试第51-53页
     ·离子阻挡膜对通道板噪声频谱影响分析第53-55页
   ·离子阻挡膜厚度对MCP与荧光屏组件噪声特性的影响第55-59页
     ·离子阻挡膜厚度对组件输出信噪比影响的测试第55-57页
     ·不同离子阻挡膜厚度通道板噪声频谱分析第57-59页
   ·小结第59-60页
5 结束语第60-62页
   ·本文工作小结第60页
   ·有待进一步解决的问题第60-62页
致谢第62-63页
参考文献第63-65页

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