嵌入式存储器的测试方法研究与实现
| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-9页 |
| 目录 | 第9-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-16页 |
| ·集成电路测试的重要性 | 第11-12页 |
| ·可测性设计 | 第12-14页 |
| ·测试技术 | 第14-15页 |
| ·论文的研究内容 | 第15-16页 |
| 第二章 存储器技术 | 第16-24页 |
| ·存储器类型 | 第16-17页 |
| ·存储器的测试方法 | 第17-19页 |
| ·存储器测试使用的算法 | 第19-22页 |
| ·存储器测试的难点 | 第22-24页 |
| 第三章 存储器内建自测试设计 | 第24-51页 |
| ·存储器内建自测试原理 | 第24-27页 |
| ·存储单元的故障模式 | 第27-29页 |
| ·存储器故障检测 | 第29-32页 |
| ·各种故障模型的测试要求 | 第32-34页 |
| ·存储器的BIST模型和算法 | 第34-39页 |
| ·SDRAM的测试设计 | 第39-51页 |
| 第四章 存储器功能测试与验证 | 第51-63页 |
| ·存储器接口电路测试 | 第51-54页 |
| ·数据线测试 | 第54-55页 |
| ·地址线测试 | 第55页 |
| ·测试程序 | 第55-60页 |
| ·SDRAM测试 | 第60-63页 |
| 第五章总结与展望 | 第63-65页 |
| ·本文总结 | 第63页 |
| ·本文展望 | 第63-65页 |
| 攻读硕士期间发表论文 | 第65-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-69页 |
