| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-12页 |
| ·指纹粗比对加速卡的研究背景 | 第9-10页 |
| ·主要工作和章节安排 | 第10-12页 |
| 第二章 硬件描述语言VHDL与FPGA设计 | 第12-20页 |
| ·VHDL语言的特性及优势 | 第12-13页 |
| ·开发FPGA的原则和技巧 | 第13-18页 |
| ·开发FPGA的几点原则 | 第14-15页 |
| ·开发FPGA的一些技巧 | 第15-18页 |
| ·StratixⅡ系列FPGA的特性和结构 | 第18-20页 |
| ·StratixⅡ系列芯片的特点 | 第18页 |
| ·StratixⅡ芯片的结构 | 第18-20页 |
| 第三章 核心比对模块的优化和改进 | 第20-57页 |
| ·核心比对模块的总体框架 | 第20-22页 |
| ·特征三角形比对 | 第20-21页 |
| ·偏移量计算 | 第21页 |
| ·细节点匹配 | 第21-22页 |
| ·计数读取标识输出的边产生的改进 | 第22-25页 |
| ·边产生模块的作用 | 第22页 |
| ·原始设计的问题和相应的解决办法 | 第22-23页 |
| ·改进后的特征边生成模块 | 第23-25页 |
| ·特征三角形比对模块中并串转换模块的改进 | 第25-28页 |
| ·进行并串转换的原因 | 第25-26页 |
| ·原始并串转换模块的隐患 | 第26页 |
| ·对并串转换模块的改进 | 第26-28页 |
| ·对偏移量排序模块的改进 | 第28-33页 |
| ·偏移量排序模块的功能 | 第28-29页 |
| ·原设计存在的问题 | 第29页 |
| ·新的偏移量排序模块 | 第29-33页 |
| ·对细节点匹配模块的DFB缓冲的修改 | 第33-39页 |
| ·细节点匹配模块的DFB缓冲的作用 | 第33页 |
| ·原始设计的DFB缓冲存在的问题 | 第33-34页 |
| ·新的DFB缓冲 | 第34-39页 |
| ·对偏移量读取控制的改进 | 第39-42页 |
| ·原设计的偏移量读取模块的问题 | 第39-40页 |
| ·新的偏移量读取控制 | 第40页 |
| ·新的偏移量读取控制与原设计的比较 | 第40-42页 |
| ·对库指纹特征点读取控制的修改 | 第42-43页 |
| ·比对结束信号生成模块matchover_gen | 第43-45页 |
| ·为什么用全‘1’的FID指示比对结束 | 第43-44页 |
| ·matchover_gen的设计 | 第44-45页 |
| ·存放匹配库指纹序号的FIFO的写控制模块fifo_write | 第45-49页 |
| ·fifo_write的作用 | 第45-46页 |
| ·fifo_write的设计 | 第46-49页 |
| ·对打分模块filter_marker的修改 | 第49-50页 |
| ·打分筛选模块的作用 | 第49页 |
| ·原设计中的filter_marker的问题及解决 | 第49-50页 |
| ·对现场指纹特征点少于17个的求结构分模块filter_marker_total_grade的改进 | 第50-55页 |
| ·filter_marker_total_grade的作用 | 第50-51页 |
| ·原设计的fiter_marker_total_grade的问题 | 第51-52页 |
| ·新的求结构分状态机 | 第52-53页 |
| ·新的打分模块与原设计的比较 | 第53-55页 |
| ·现场指纹特征点多于16个的打分模块fitler_marker_up的设计 | 第55-57页 |
| 第四章 片外SRAM控制器的设计 | 第57-67页 |
| ·片外SRAM概述 | 第57-58页 |
| ·片外SRAM控制器sram的整体规划 | 第58-59页 |
| ·SRAM写控制模块sram_write | 第59-62页 |
| ·SRAM的读控制模块sram_read | 第62-63页 |
| ·SRAM核心控制模块sram_core | 第63-65页 |
| ·与SRAM的接口sram_sram | 第65-67页 |
| 第五章 本地总线与9054的接口 | 第67-74页 |
| ·9054概述 | 第67页 |
| ·通信模式的选择 | 第67-70页 |
| ·选择C模式的原因 | 第67-68页 |
| ·C模式的工作流程 | 第68-70页 |
| ·对PCB板布线的改动 | 第70页 |
| ·本地总线上与9054的接口local_9054的设计 | 第70-74页 |
| 第六章 验证和测试结果 | 第74-78页 |
| ·FPGA代码编译报告 | 第74-75页 |
| ·与应用程序、驱动程序联合测试 | 第75-78页 |
| ·测试程序的设计 | 第75-76页 |
| ·测试结果 | 第76-78页 |
| 第七章 总结与展望 | 第78-79页 |
| ·总结 | 第78页 |
| ·展望 | 第78-79页 |
| 参考文献 | 第79-80页 |
| 致谢 | 第80-81页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第81页 |
