薄壁回转体几何参数精密测量的轨迹规划
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-10页 |
| 1 绪论 | 第10-17页 |
| ·论文选题背景及国内外研究现状 | 第10-13页 |
| ·薄壁回转体概述 | 第10-11页 |
| ·论文选题背景 | 第11页 |
| ·国内外研究概况 | 第11-13页 |
| ·薄壁回转体几何参数测量技术介绍及比较 | 第13-15页 |
| ·几何厚度的直接测量法 | 第13页 |
| ·几何厚度的间接测量法 | 第13-14页 |
| ·几何厚度各测量方法的分析比较 | 第14-15页 |
| ·课题研究的意义及主要内容 | 第15-17页 |
| 2 薄壁回转体几何参数测量系统概述 | 第17-26页 |
| ·几何参数测量设备测量任务分析 | 第17页 |
| ·机械系统简介 | 第17-19页 |
| ·系统总体构建方案 | 第17-18页 |
| ·专用夹具设计 | 第18-19页 |
| ·控制系统简介 | 第19-23页 |
| ·软件系统简介 | 第23-24页 |
| ·本章小结 | 第24-26页 |
| 3 测量轨迹规划的数学方法 | 第26-48页 |
| ·几何参数精密测量路径的设计 | 第26-31页 |
| ·测量路径的比较分析 | 第26-29页 |
| ·外廓形测量路径的设计 | 第29-30页 |
| ·法向壁厚测量路径的设计 | 第30-31页 |
| ·数据的预处理 | 第31-35页 |
| ·剔除测量数据中的奇异点 | 第31-34页 |
| ·测量数据的延拓与截断 | 第34-35页 |
| ·外廓面模型方程的建立 | 第35-42页 |
| ·曲线曲面插值算法比较分析 | 第35-37页 |
| ·三阶曲线插值算法 | 第37-40页 |
| ·测头的半径补偿 | 第40-42页 |
| ·测量钳运动轨迹生成算法 | 第42-45页 |
| ·运动轨迹生成技术 | 第42-43页 |
| ·测量钳结点的修正算法 | 第43-44页 |
| ·二元线性插值算法 | 第44-45页 |
| ·测量数据的一致化处理 | 第45-46页 |
| ·本章小结 | 第46-48页 |
| 4 测量轨迹规划软件开发技术 | 第48-64页 |
| ·面向对象程序设计 | 第48-49页 |
| ·数据处理设计 | 第49-51页 |
| ·数据处理软件的总体功能 | 第49-50页 |
| ·数据处理软件的各功能子模块 | 第50-51页 |
| ·壁厚测量轨迹生成的软件设计 | 第51-63页 |
| ·参数的设定 | 第51-52页 |
| ·测量数据的读入 | 第52-55页 |
| ·外轮廓曲线建模 | 第55-57页 |
| ·几何厚度测量轨迹生成 | 第57-59页 |
| ·迭代法反求测钳铰接点坐标所对应的外廓点坐标 | 第59-60页 |
| ·运动程序G代码的生成 | 第60-63页 |
| ·本章小结 | 第63-64页 |
| 5 测量系统精度的分析补偿及校准方法 | 第64-74页 |
| ·测量系统精度的分析补偿 | 第64-68页 |
| ·机床定位精度及回程间隙补偿 | 第64-65页 |
| ·直线轴定位精度二维补偿 | 第65-66页 |
| ·测钳铰接点轨迹误差对壁厚测量精度的影响 | 第66-68页 |
| ·薄壁回转体几何测量设备校准方法的研究 | 第68-72页 |
| ·法向壁厚测量精度校准方法 | 第68-71页 |
| ·外廓形测量精度校准方法 | 第71-72页 |
| ·本章小结 | 第72-74页 |
| 结论 | 第74-76页 |
| 参考文献 | 第76-79页 |
| 附录A 薄壁回转体几何参数测量设备实物照片 | 第79-80页 |
| 附录B 几何厚度误差图界面 | 第80-81页 |
| 攻读硕士学位期间发表学术论文情况 | 第81-82页 |
| 致谢 | 第82-83页 |
