| 摘要 | 第1-8页 |
| Abstract | 第8-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-14页 |
| ·光谱认识的发展过程 | 第10-11页 |
| ·谱线展宽和频移研究的背景和进展 | 第11-12页 |
| ·研究的主要内容和意义 | 第12-13页 |
| ·论文章节内容安排介绍 | 第13-14页 |
| 第二章 相关基础知识和实验方法介绍 | 第14-28页 |
| ·谱线相关知识 | 第14-17页 |
| ·谱线轮廓 | 第14-15页 |
| ·线型函数 | 第15-17页 |
| ·谱线展宽机制介绍 | 第17-23页 |
| ·自然展宽 | 第17页 |
| ·Doppler 展宽 | 第17-18页 |
| ·共振展宽 | 第18-19页 |
| ·Van der Waals 展宽 | 第19-20页 |
| ·Stark 展宽 | 第20-21页 |
| ·自吸收致宽 | 第21页 |
| ·仪器展宽 | 第21-23页 |
| ·激光等离子体的光谱诊断 | 第23-25页 |
| ·电子密度的确定 | 第23-24页 |
| ·电子温度的确定 | 第24-25页 |
| ·实验设备和步骤 | 第25-28页 |
| ·实验装置示意图 | 第26页 |
| ·实验步骤简要说明 | 第26-28页 |
| 第三章 Ti Ⅲ谱线Stark 展宽和频移的实验结果和理论计算 | 第28-40页 |
| ·理论方法介绍 | 第28-30页 |
| ·激光诱导钛等离子体实验结果及相关分析 | 第30-40页 |
| ·钛等离子体的相关研究工作 | 第30-31页 |
| ·谱线强度分析 | 第31-33页 |
| ·Ti Ⅲ（237.4986 nm 和241.3989 nm)谱线的Stark 展宽 | 第33-36页 |
| ·Ti Ⅲ（237.4986 nm 和241.3989 nm)谱线的Stark 频移 | 第36-40页 |
| 第四章 铝等离子体谱线模拟及模型参数作用探究 | 第40-50页 |
| ·理论方法介绍 | 第40-43页 |
| ·理论介绍引言 | 第40-41页 |
| ·理论模型主要内容 | 第41-43页 |
| ·谱线模拟及其结果 | 第43-46页 |
| ·模型参数和谱线线形关系探讨 | 第46-50页 |
| ·自蚀深度与模型参数σ_1 /σ_2 之间的关系 | 第47-49页 |
| ·模型Stark 频移参数对谱线线形的影响 | 第49-50页 |
| 第五章 结论与展望 | 第50-52页 |
| ·工作结论 | 第50页 |
| ·对未来工作的建议 | 第50-52页 |
| 参考文献 | 第52-58页 |
| 攻读硕士学位期间完成的论文 | 第58-60页 |
| 致谢 | 第60页 |
