垂直探测电离图F层描迹自动判读方法的研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 1 绪论 | 第10-15页 |
| ·课题研究背景与意义 | 第10-11页 |
| ·国内外研究发展动态 | 第11-13页 |
| ·本文工作安排 | 第13-15页 |
| 2 电离层探测相关知识 | 第15-26页 |
| ·电离层基础知识 | 第15-19页 |
| ·电离层形成与变化机制 | 第15-16页 |
| ·电离层状态影响因素 | 第16-17页 |
| ·电离层分层结构 | 第17-19页 |
| ·电离层探测方法及原理 | 第19-22页 |
| ·垂直探测电离图 | 第22-24页 |
| ·本文算法整体流程 | 第24-25页 |
| ·本章小结 | 第25-26页 |
| 3 电离图 F 层描迹自动提取 | 第26-40页 |
| ·图像预处理 | 第26-32页 |
| ·阈值分割 | 第27-29页 |
| ·形态学处理 | 第29-32页 |
| ·目标标定 | 第32-34页 |
| ·目标频率范围标定 | 第32-33页 |
| ·连通分量标记 | 第33-34页 |
| ·F 层描迹提取 | 第34-37页 |
| ·F 层描迹主体 | 第34-35页 |
| ·模糊F 区 | 第35页 |
| ·F 层描迹提取 | 第35-37页 |
| ·实验分析 | 第37-39页 |
| ·本章小结 | 第39-40页 |
| 4 电离图 F 层描迹自动判读 | 第40-58页 |
| ·F 层描迹去噪 | 第40-45页 |
| ·基于扩散偏微分方程的图像增强 | 第41-44页 |
| ·结合形态学算法去噪 | 第44-45页 |
| ·F 层描迹主体参数判读 | 第45-53页 |
| ·骨架化 | 第46-49页 |
| ·骨架修剪 | 第49页 |
| ·主体描迹O/X 波的划分 | 第49-52页 |
| ·主体O 波描迹F1/F2 层划分与参数度量 | 第52-53页 |
| ·F2 层临界频率读取 | 第53-55页 |
| ·实验分析 | 第55-57页 |
| ·本章小结 | 第57-58页 |
| 5 总结与展望 | 第58-60页 |
| ·总结 | 第58-59页 |
| ·展望 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-64页 |
| 附录 | 第64-65页 |
| 致谢 | 第65-66页 |
| 个人简历、在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第66页 |
