液相法制备掺铝氧化锌导电材料
| 摘要 | 第1-9页 |
| Abstract | 第9-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-21页 |
| 1 引言 | 第13页 |
| 2 选题意义 | 第13-14页 |
| 3 氧化锌铝导电材料的发展现状 | 第14-16页 |
| 4 氧化锌铝导电材料的制备方法 | 第16-17页 |
| ·氧化锌铝粉体的制备方法 | 第16页 |
| ·氧化锌铝导电薄膜的制备方法 | 第16-17页 |
| 5 氧化锌铝导电材料的用途 | 第17-18页 |
| 6 氧化锌铝的发展前景 | 第18-19页 |
| 7 本论文研究总体思路和主要内容 | 第19-21页 |
| 第二章 沸腾回流法制备氧化锌铝粉体及性质表征 | 第21-41页 |
| 1 引言 | 第21页 |
| 2 实验 | 第21-25页 |
| ·主要仪器和试剂 | 第21页 |
| ·溶液的配置 | 第21页 |
| ·实验过程 | 第21-22页 |
| ·前驱体PH值及产物煅烧温度的确定 | 第22-23页 |
| ·产物中铝含量的测定 | 第23-25页 |
| ·所用仪器和试剂 | 第23-24页 |
| ·溶液的配置 | 第24页 |
| ·样品的配置 | 第24页 |
| ·铝离子含量的标定方法及原理 | 第24-25页 |
| 3 产物的表征与分析 | 第25-40页 |
| ·硝酸锌、硝酸铝体系 | 第25-31页 |
| ·铝元素含量分析 | 第25-26页 |
| ·ZAO的形貌 | 第26-27页 |
| ·ZAO粉体晶胞参数的测定 | 第27-28页 |
| ·XRD表征 | 第28-29页 |
| ·方块电阻的测定 | 第29-30页 |
| ·煅烧温度对样品方块电阻的影响 | 第30-31页 |
| ·pH值对样品方块电阻的影响 | 第31页 |
| ·醋酸锌和硝酸铝体系 | 第31-36页 |
| ·产物中铝含量的测定 | 第31-32页 |
| ·样品形貌的表征 | 第32-34页 |
| ·ZAO粉体晶胞参数的测定 | 第34页 |
| ·XRO表征 | 第34-35页 |
| ·方块电阻的测定 | 第35-36页 |
| ·硫酸锌和硫酸铝体系 | 第36-40页 |
| ·产物中Al含量的测定 | 第36页 |
| ·样品形貌的表征 | 第36-37页 |
| ·XRD表征 | 第37-38页 |
| ·不同PH值对产物形貌的影响 | 第38-40页 |
| 4 小结 | 第40-41页 |
| 第三章 共沉淀法制备氧化锌铝粉体及产物的表征 | 第41-51页 |
| 1 引言 | 第41页 |
| 2 试验 | 第41-42页 |
| ·主要仪器和试剂 | 第41页 |
| ·溶液的配置 | 第41页 |
| ·实验思路及实验过程 | 第41-42页 |
| ·产物中铝元素含量的测定 | 第42页 |
| 3 产物的分析与表征 | 第42-50页 |
| ·硝酸锌和硝酸铝体系 | 第42-47页 |
| ·铝元素含量的分析 | 第42-43页 |
| ·样品的形貌分析 | 第43-45页 |
| ·ZAO粉体晶胞参数的测定 | 第45页 |
| ·XRD表征 | 第45-46页 |
| ·方块电阻的测定 | 第46-47页 |
| ·硫酸锌和硫酸铝体系 | 第47-50页 |
| ·产物铝含量的分析 | 第47-48页 |
| ·样品形貌分析 | 第48页 |
| ·ZAO粉体晶胞参数的测定 | 第48-49页 |
| ·XRD表征 | 第49-50页 |
| ·方块电阻的测定 | 第50页 |
| 4 小结 | 第50-51页 |
| 第四章 氧化锌铝光性质的研究 | 第51-57页 |
| 1 引言 | 第51页 |
| 2 ZAO的UV光谱研究 | 第51-53页 |
| 3 ZAO的光致发光 | 第53-55页 |
| ·固体的发光 | 第53页 |
| ·光致发光的原理 | 第53-54页 |
| ·氧化锌铝光致发光分析 | 第54-55页 |
| 4 小结 | 第55-57页 |
| 第五章 结论 | 第57-59页 |
| 参考文献 | 第59-63页 |
| 致谢 | 第63页 |
