| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-13页 |
| 第1章 绪论 | 第13-36页 |
| ·材料表面科学 | 第13-16页 |
| ·表面分析方法 | 第16-17页 |
| ·扫描探针显微镜 | 第17-22页 |
| ·显微镜的发展历程 | 第17-19页 |
| ·扫描探针显微镜系列 | 第19页 |
| ·扫描探针显微镜在表面科学研究中的突出作用 | 第19-22页 |
| ·扫描探针显微镜对纳米科技的推动 | 第22-28页 |
| ·扫描探针表面纳米加工技术 | 第23-26页 |
| ·扫描探针介观物理研究 | 第26-28页 |
| ·金属表面电子结构 | 第28-31页 |
| ·自由电子模型和密度函数理论 | 第28-31页 |
| ·功函数 | 第31页 |
| ·金属表面电子发射过程 | 第31-32页 |
| ·扫描探针显微学 | 第32-34页 |
| ·本论文的研究内容及目标 | 第34-36页 |
| 第2章 实验材料、方法及设备 | 第36-48页 |
| ·银薄膜的制备 | 第36-40页 |
| ·制备设备构造 | 第36-37页 |
| ·采用的溅射方式 | 第37-39页 |
| ·磁控溅射的基本原理 | 第39-40页 |
| ·试样分析方法－AFM 分析 | 第40-47页 |
| ·AFM 的基本工作原理 | 第40-41页 |
| ·AFM 的结构 | 第41-43页 |
| ·AFM 的检测的相互作用力 | 第43-45页 |
| ·AFM 检测时的扫描成像模式 | 第45-47页 |
| ·本章小结 | 第47-48页 |
| 第3章 C-C sp~2杂化键网络受力特性的AFM 研究 | 第48-62页 |
| ·引言 | 第48-53页 |
| ·实验结果 | 第53-56页 |
| ·分析讨论 | 第56-61页 |
| ·本章小结 | 第61-62页 |
| 第4章 电子驻波的AFM 研究 | 第62-74页 |
| ·引言 | 第62-63页 |
| ·实验结果及分析讨论 | 第63-72页 |
| ·本章小节 | 第72-74页 |
| 第5章 导体表面势垒的AFM 研究 | 第74-84页 |
| ·引言 | 第74-76页 |
| ·实验结果 | 第76-78页 |
| ·分析与讨论 | 第78-83页 |
| ·本章小结 | 第83-84页 |
| 结论 | 第84-86页 |
| 参考文献 | 第86-96页 |
| 攻读博士学位期间发表的论文 | 第96-98页 |
| 致谢 | 第98-99页 |
| 作者简介 | 第99页 |